[实用新型]测试装置

说明书

【技术领域】

本实用新型关于一种测试装置。

【背景技术】

业界皆知，测试装置被广泛应用于测试芯片，测试装置设计的好坏将直接影响到待测芯片表面的损害程度以及待测芯片与测试板良好的电性导通。

中国大陆专利CN03207548.0公开了一种将集成电路模块电性连接至测试板的电连接器，请参阅其说明书附图2、图3，该电连接器包括基座10、枢接于基座10一侧边的盖体11、盖体11包括一矩形框体110、及装配于框体的压紧部111，压紧部111包括一对于其中部设有配合槽1112、相互平行并有一定间距的弓形弹簧1110及一对分别连接弹簧1110两端的横杆1111，弹簧1110可以发生弹性形变，当集成电路模块有误差时，集成电路模块可被弹簧1110紧密固持于基座10。

其缺陷在于：盖板和弹簧有刚性材料制成，扣合的过程中，盖板和弹簧有很大的冲击力会直接作用在集成电路模块上，很容易使集成电路模块错位、损伤，从而造成不良的电性导接，也就无法正常测试待测芯片。

因此，有必要设计一种新的测试装置，以克服上述缺陷。

【实用新型内容】

本实用新型的目的在于提供一种克服待测芯片受到很大冲击力造成其错位、损伤等缺陷的测试装置。

本实用新型测试装置，包括：底板，枢接于底板的压板，枢接于压板上用于压制待测芯片的压制件，以及与压板配合使用的摇杆。其中，压板与底板之间设有弹性元件，该弹性元件设有一基部和至少一自由端，所述基部与所述压板固定，所述自由端与底板的距离小于所述基部与底板之间的距离。当所述压板朝着所述底板的方向旋转的过程中，在压制件未接触到待测芯片之前，所述自由端先接触到所述底板。

与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：该测试装置在测试过程中，由于弹性元件的缓冲作用，其由刚性材料制成的压板、压制件下压的冲击力减小，从而不会引起待测芯片受到大的冲击力而造成其错位、损伤等现象的发生，因而，可以保证测试芯片和电路板能够良好的电性导通。

【附图说明】

图1是本实用新型测试装置的立体分解图；

图2是图1所示弹性元件的俯视图；

图3是本实用新型测试装置开启状态的立体图；

图4是本实用新型测试装置的弹性元件接触到底板状态的示意图；

图5是本实用新型测试装置的立体组合图；

图6是图5所示沿A-A方向的剖视图。

【具体实施方式】

下面结合附图和具体实施例对本实用新型芯片测试装置作进一步说明。

请参照图1至图3，本实用新型测试装置1用以将待测芯片2电性连接至电路板3，该测试装置1包括：一压板4、一压制件5、一弹性元件7、一底板6、一绝缘本体8、一方形框体9、一摇杆11、一背板12、一电路板3。

所述压制件5通过一第一轴18，一第二轴19枢接于所述压板4，所述压板4通过一第三轴10枢接于所述底板6，所述压板4与所述底板6之间设有所述弹性元件7，其中，所述底板6开设有一阶梯状槽67，所述绝缘本体8设置在所述阶梯状槽67内且固定于所述电路板3，所述方形框体9设于所述阶梯状槽67内且位于所述绝缘本体8上面，所述摇杆11枢接于所述底板6上，所述电路板3设于所述底板6的下表面，所述背板12设于所述电路板3的下表面，用来固定所述电路板3。

所述压板4包括两相对第一侧边41及连接所述第一侧边41的两相对第二侧边42，所述两相对第一侧边41上分别设有一第一枢接孔411，所述一第二侧边42设有一对第一固定孔421，另，所述一第二侧边42延伸出一对第一延伸部422，所述一对第一延伸部422分别设有一第二枢接孔4221，所述另一第二侧边42延伸一第二延伸部423，所述压板4中间设有一开口45，所述压制件5设于所述开口45内。

所述压制件5用于压制待测芯片2，该压制件5一相对侧边分别设有一第三枢接孔51，所述第一轴18穿过所述一第一枢接孔411、一第三枢接孔51，所述第二轴19穿过所述另一第一枢接孔411、另一第三枢接孔51，从而，所述压制件5枢接于所述压板4。