[实用新型]一种激光调整校正设备用集成测量光路结构无效

专利信息
申请号: 200820091716.7 申请日: 2008-01-16
公开(公告)号: CN201155965Y 公开(公告)日: 2008-11-26
发明(设计)人: 周欣 申请(专利权)人: 科瑞自动化技术(深圳)有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/26;G02B17/08;G02B5/08
代理公司: 深圳创友专利商标代理有限公司 代理人: 喻尚威
地址: 518057广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公告了一种激光调整校正设备用集成测量光路结构,包括激光器、聚焦透镜以及测量模块,测量模块直接投射测量光束至被调整校正件表面,再接受直接返回的测量光束,其特征在于在聚焦透镜与被调整校正件的激光光路中间设有与光路纵向夹角为35°的反射镜;反射镜将激光波束以20°的倾斜角投射至被调整校正件的表面;激光波束投射的被调整校正件的表面是与测量光束直接投射的同一表面,而激光波束与测量光束在空间位置上相互分离。由于调校激光光束和测量光束在空间位置上相互分离,互不干涉,消除了对测量光束的影响,实现了调校模块和测量模块的集成,保证了测量精度,使测量和调校同时进行,进一步提高了激光测量和调校效率。
搜索关键词: 一种 激光 调整 校正 备用 集成 测量 结构
【主权项】:
1.一种激光调整校正设备用集成测量光路结构,包括发射激光波束的激光器、设置在激光器与被调整校正件中间将激光波束聚焦的聚焦透镜,以及测量模块,所述测量模块直接投射测量光束至被调整校正件表面,再接受直接返回的测量光束,其特征在于:在所述聚焦透镜与所述被调整校正件的激光光路中间设有与光路纵向夹角为35°的反射镜;所述反射镜将激光波束以20°的倾斜角投射至被调整校正件的表面;所述激光波束投射的被调整校正件的表面是与所述测量光束直接投射的同一表面,而所述激光波束与所述测量光束在空间位置上相互分离。
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