[发明专利]刀具参数测量系统及方法有效
| 申请号： | 200810306398.6 | 申请日： | 2008-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN101745843A | 公开（公告）日： | 2010-06-23 |
| 发明（设计）人： | 唐伟德 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;赐福科技股份有限公司 |
| 主分类号： | B23Q17/00 | 分类号： | B23Q17/00;B23Q17/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种刀具参数测量系统，用于测量数控机床的取刀工具取得的刀具的加工参数，包括一控制器及一光学感测器，所述控制器包括一换刀控制模块，用于控制所述取刀工具将刀具移至光学感测器的上方；一刀具控制模块，用于控制所述取刀工具将刀具从光学感测器上方下降至使所述刀具头部与光学感测器的一感测基准线同高度，并控制所述刀具沿垂直于所述光学感测器的感测基准线的方向穿过感测基准线，使得光学感测器发出的电信号产生电平变化；及一参数计算模块，用于接收所述所述光学感测器发送的电信号并根据所述电信号计算出刀具的加工参数。本发明还提供了一种刀具参数测量方法。本发明刀具参数测量系统及方法可快速进行刀具参数测量，从而节省测量时间。 | ||
| 搜索关键词： | 刀具 参数 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种刀具参数测量系统，应用于数控机床，用于测量数控机床的取刀工具取得的刀具的加工参数，包括一控制器及一光学感测器，所述控制器包括：一换刀控制模块，用于控制所述取刀工具将所述刀具移至所述光学感测器的上方；一刀具控制模块，用于控制所述取刀工具将所述刀具从所述光学感测器上方下降至使所述刀具头部与所述光学感测器的一感测基准线同高度，并控制所述刀具沿垂直于所述光学感测器的感测基准线的方向穿过所述感测基准线，使得所述光学感测器发出的电信号产生电平变化；及一参数计算模块，用于接收所述所述光学感测器发送的电信号并根据所述电信号的电平变化计算出所述刀具的加工参数。
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