[发明专利]一种制备高速电吸收调制器的方法无效
申请号: | 200810225782.3 | 申请日: | 2008-11-12 |
公开(公告)号: | CN101738748A | 公开(公告)日: | 2010-06-16 |
发明(设计)人: | 张伟;潘教青;汪洋;朱洪亮 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | G02F1/017 | 分类号: | G02F1/017 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种制备高速电吸收调制器的方法,采用量子阱混杂方法,一次外延生长实现有源波导与无源波导集成,同时采用行波电极以进一步提高调制速率,具有高调制速率、低插入损耗、高光饱和吸收功率和偏振不灵敏等特性。 | ||
搜索关键词: | 一种 制备 高速 吸收 调制器 方法 | ||
【主权项】:
一种制备高速电吸收调制器的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:采用金属有机化学气相沉积方法在衬底上依次外延生长铟磷InP缓冲层、铟镓砷磷InGaAsP下光限制层、多量子阱层MQW、InGaAsP上光限制层和InP注入缓冲层,得到制备高速电吸收调制器的外延片;步骤2:对该外延片的无源波导区进行磷离子注入诱导量子阱混杂处理:步骤3:采用金属有机化学气相沉积法在外延片上二次外延生长p型InP盖层和p型铟镓砷InGaAs欧姆电极接触层;步骤4:掩蔽有源波导区域,腐蚀掉无源波导区上的p型InGaAs欧姆电极接触层,并对无源波导区的p型InP盖层进行氦离子注入;步骤5:刻出脊型波导结构;步骤6:利用热氧化技术生长SiO2绝缘层,腐蚀掉有源波导区上面的SiO2,蒸发金Au/锌Zn作为p型欧姆接触金属;步骤7:蚀掉脊波导两侧下光限制层上的SiO2绝缘层,蒸发金Au/锗Ge/镍Ni作为n型欧姆接触金属;步骤8:用光刻胶保护脊波导和两侧的n型欧姆接触金属,化学腐蚀其余区域未至半绝缘衬底;步骤9:涂覆聚酰亚胺保护脊波导,光刻露出脊波导中间有源波导区上的p型欧姆接触金属和脊波导两侧的n型欧姆接触金属,然后进行固化;步骤10:在器件的整个上表面溅射钛Ti/铂Pt/金Au,光刻并腐蚀出电极图形;背面减薄,完成器件的制作。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810225782.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种用于灯检机的星轮出料装置
- 下一篇:高精度工件尺寸测量分拣设备