[发明专利]一种平面发光设备测量调整的系统及方法有效
| 申请号： | 200810223514.8 | 申请日： | 2008-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN101377451A | 公开（公告）日： | 2009-03-04 |
| 发明（设计）人： | 邵寅亮;管丽;李伟 | 申请（专利权）人： | 北京巨数数字技术开发有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G05D3/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100085北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种平面发光设备测量调整的系统及方法。该系统包括测量设备，还包括倾角调节装置，用于倾斜设置所述平面发光模组，以获取所述平面发光模组的亮度特征值，进而生成调整数据。该方法为通过获取每一个平面发光模组的观测视角a，来对平面发光模组进行亮度调整。通过本发明，可节省大量人力和时间，还不受空间等因素的限制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 平面 发光 设备 测量 调整 系统 方法 | ||
【主权项】：
1、一种平面发光设备测量调整的系统，其中，所述平面发光设备由若干平面发光模组构成，所述系统包括测量设备，其特征在于，所述系统还包括倾角调节装置，其与需要测量的平面发光模组相连接，用于调节所述平面发光模组的角度，由所述测量设备获取观测视角a下该平面发光模组的亮度特征值，从而生成该平面发光模组对应的调整数据；其中，所述平面发光模组的中心点和所述测量设备的连线，与所述平面发光模组中心点的法线，两者的夹角为所述观测视角a。
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