[发明专利]多晶硅薄膜组件的制备方法有效
申请号: | 200810210052.6 | 申请日: | 2007-10-09 |
公开(公告)号: | CN101404304A | 公开(公告)日: | 2009-04-08 |
发明(设计)人: | 范多旺;王成龙;范多进;令晓明;孔令刚 | 申请(专利权)人: | 兰州大成自动化工程有限公司;兰州交通大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 兰州振华专利代理有限责任公司 | 代理人: | 张 真 |
地址: | 730070*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及多晶硅薄膜的制备及其太阳能电池使用的多晶硅薄膜的组件的形成方法。一种多晶硅薄膜组件的制备方法,其主要特点包括有如下步骤:A.基底清洗;B.多晶硅薄膜制备,将高纯硅作为靶材,当真空室体内压强抽到2×10-4Pa后,向真空室体充入氩气,真空室体内压强达到0.5~5Pa时,在基底的工件车和真空室体间加200~1000V的偏压,占空比为45~80%;磁场强度300~500Gs,开始磁控溅射镀膜,在基片铝膜表面形成多晶硅薄膜;基片温度为25~30℃,镀膜时,真空室体温度为25~30℃。本发明的优点是,可在常温下直接得到高结晶度的多晶硅薄膜,使得硅衬底薄膜的制备与结晶在真空条件下同步完成,大大降低了多晶硅薄膜大规模制备的成本。其工艺简单,可批量生产。 | ||
搜索关键词: | 多晶 薄膜 组件 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种多晶硅薄膜组件的制备方法,其特征在于有如下步骤: A.基底清洗,在超声清洗机中用清洗液和纯净水的混合液对基底进行表面清洗; B.铝膜电极制备,将清洗好的基底放入真空室蒸镀铝膜; C.多晶硅薄膜制备,将高纯硅作为靶材,当真空室体内压强抽到2×10-4Pa后,向 真空室体充入氩气,真空室体内压强达到0.5~5Pa时,在安装基底的工件车与真 空室体之间加200~1000V的偏压,占空比为45~80%;磁场强度300~500Gs,开 始磁控溅射镀膜,在基片铝膜表面形成多晶硅薄膜;基片温度为25~30℃,镀膜 时,真空室体温度为25~30℃; D.导电透明电极或梳状电极制备,在多晶硅薄膜表面镀制导电透明电极或者梳状 电极;选用纯度为99.99%的氧化锌和纯度为99.99%的氧化铝混合烧结成直流溅 射靶,其中氧化铝含量为6~10%质量分数,将两靶相对放置,靶间距为40~70mm; 将镀好的多晶硅薄膜膜层朝向两靶,放在高于两靶上边缘3~10cm的位置;溅射 前本底真空为2~5×10-2Pa,将纯度为99.999%的氩气通过阀门充入工作室,直 至气压达到1~5Pa,开启溅射电源,继续通入氩气;沉积厚度为200~500nm; E.减反射保护膜制备,在导电透明电极或者多晶硅薄膜和梳状电极上制备减反射 膜:开启氟化镁蒸发电源,蒸发电流为1500~1800A,电压为6~10V,时间为 50~100s。如权利要求1所述的多晶硅薄膜制备方法,其特征是所述的基底的材料 为玻璃、金属材料或是塑料柔性材料。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于兰州大成自动化工程有限公司;兰州交通大学,未经兰州大成自动化工程有限公司;兰州交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810210052.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于在便携式设备中呈现提示的方法和系统
- 下一篇:一种针状α氧化铝的制备方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的