[发明专利]红外探测器像元应力的监控结构及监控方法有效

专利信息
申请号: 200810201308.7 申请日: 2008-10-16
公开(公告)号: CN101386401A 公开(公告)日: 2009-03-18
发明(设计)人: 康晓旭;姜利军 申请(专利权)人: 上海集成电路研发中心有限公司;浙江大立科技股份有限公司
主分类号: B81B7/02 分类号: B81B7/02;G01J5/10;B81C1/00;B81C5/00
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所 代理人: 郑 玮
地址: 201203上海市张江高科*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种红外探测器像元应力的监控结构及监控方法,用于监控红外探测器像元结构中的应力。所述监控结构采用与红外探测器像元结构相同的制造工艺制造,其包括从下至上依次层叠的金属反射层,牺牲层,释放保护及支撑层,敏感材料层,以及覆盖于所述敏感材料层上的未经过图形化处理的金属电极,所述金属反射层作为一下电极板,金属电极作为一上电极板,利用上、下电极板间的电容特性来监控所述红外探测器像元结构中的应力。本发明基于电容值随上、下极板间距变化的原理,通过对电容值进行监测,可以反映出金属反射层与金属电极之间的距离变化,即反应了是否存在极板翘曲现象,从而实现对红外探测器像元结构在应力影响下产生翘曲程度的监控。
搜索关键词: 红外探测器 应力 监控 结构 方法
【主权项】:
1. 一种红外探测器像元应力的监控结构,用于监控一红外探测器像元结构中的应力,其特征在于,所述监控结构包括从下至上依次层叠的金属反射层,牺牲层,释放保护及支撑层,敏感材料层,以及覆盖于所述敏感材料层上的未经过图形化处理的金属电极,其中,所述金属反射层作为一下电极板,金属电极作为一上电极板,利用所述上、下电极板间的电容特性来监控所述红外探测器像元结构中的应力。
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