[发明专利]提高用于无孔间隙填充的介电膜质量的方法和系统无效
申请号: | 200810173416.8 | 申请日: | 2008-10-22 |
公开(公告)号: | CN101425461A | 公开(公告)日: | 2009-05-06 |
发明(设计)人: | 阿布海杰特·巴苏·马利克;杰弗里·C·芒罗;王林林;斯里尼瓦斯·D·内曼尼;郑宜;袁正;迪米特里·卢伯米尔斯基;叶怡利 | 申请(专利权)人: | 应用材料股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/316 | 分类号: | H01L21/316;H01L21/762 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明是一种提高用于无孔间隙填充的介电膜质量的方法和系统。一种在基板上形成氧化硅层的方法。该方法包括提供基板和形成覆盖至少部分基板的第一氧化硅层,该第一氧化硅层包括剩余水、羟基和碳种类物质。该方法还包括将第一氧化硅层暴露到多种含硅种类物质以形成与第一氧化硅层部分混合的多种非晶硅成分。此外,该方法包括在氧化环境中退火与多种非晶硅成分部分混合的第一氧化硅层以在基板上形成第二氧化硅层。至少部分非晶硅成分被氧化以变成部分的第二氧化硅层和未反应的剩余羟基且在第二氧化硅层中的碳种类物质基本被去除。 | ||
搜索关键词: | 提高 用于 间隙 填充 介电膜 质量 方法 系统 | ||
【主权项】:
1. 一种用于在基板上形成氧化硅层的方法,该方法包括:提供基板;形成覆盖至少一部分基板的第一氧化硅层,该第一氧化硅层包括剩余水、羟基和碳种类物质;将第一氧化硅层暴露于多种含硅种类物质,多种含硅种类物质中的至少一部分与至少一部分剩余水和羟基反应或者被热分解以形成部分地与第一氧化硅层混合的多种非晶硅成分;在氧化环境中退火部分地与多种非晶硅成分混合的第一氧化硅层以在基板上形成第二氧化硅层,其中至少一部分非晶硅成分被氧化以成为部分第二氧化硅层,且其中在第二氧化硅层中的未反应的剩余羟基和碳种类物质被基本去除。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于应用材料股份有限公司,未经应用材料股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810173416.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种光栅光谱仪重叠光谱分级器
- 下一篇:光测量装置和扫描光学系统
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造