[发明专利]一种相位式激光测距仪及其检相方法

摘要

本发明公开了一种相位式激光测距仪及其检相方法，属电子测量领域。其结构包括信号采样处理控制模块、第一信号放大滤波模块、第二信号放大滤波模块、测尺信号发生模块、激光调制发射模块、光信号接收检测模块、信号对数转换器模块、电源模块和显示模块；其检相方法包括选取系统降采样频率、确定采样数据长度、采样数据分组、相位移的计算和距离值的计算过程。本发明通过使用其相应的检相方法可用石英晶体滤波器对测距信号滤波，采用连续的间接测尺频率方式和降采样技术，采样与信号处理功能集成在同一芯片上，系统结构简易，测量精度高，成本低。

主权项

1、一种相位式激光测距仪，其特征在于：包括信号采样处理控制模块(1)、第一信号放大滤波模块(2)、第二信号放大滤波模块(2’)、测尺信号发生模块(3)、激光调制发射模块(4)、光信号接收检测模块(5)、信号对数转换器模块(6)、电源模块(7)、显示模块(8)，其中：信号采样处理控制模块(1)的输出端接测尺信号发生模块(3)的输入端，测尺信号发生模块(3)的输出端接激光调制发射模块(4)的输入端，激光调制发射模块(4)的输出端接第二信号放大滤波模块(2’)的输入端，激光调制发射模块(4)还设有一激光发射端，第二信号放大滤波模块(2’)的输出端接信号采样处理控制模块(1)的输入端，光信号接收检测模块(5)的输出端接信号对数转换器模块(6)的输入端，光信号接收检测模块(5)还设有一激光接收端，信号对数转换器模块(6)的输出端接第一信号发大滤波模块(2)的输入端，第一信号放大滤波模块(2)的输出端接信号采样处理控制模块(1)的输入端，信号采样处理控制模块(1)的显示信号输出端接显示模块(8)的输入端，电源模块(7)给上述所有模块供电。