[发明专利]氮化硅/氧化硅双层增透保护薄膜的制备方法无效

专利信息
申请号: 200810151191.6 申请日: 2008-09-28
公开(公告)号: CN101368263A 公开(公告)日: 2009-02-18
发明(设计)人: 冯丽萍;刘正堂 申请(专利权)人: 西北工业大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/06;C23C14/54;C23C14/58
代理公司: 西北工业大学专利中心 代理人: 王鲜凯
地址: 710072陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种氮化硅/氧化硅双层增透保护薄膜的制备方法。技术特征在于步骤如下:在微波电子回旋共振(ECR)等离子体射频磁控溅射系统中通入Ar气,对Si靶进行预溅射;采用ECR等离子体射频磁控溅射方法在蓝宝石衬底上沉积Si3N4薄膜后退火;采用ECR等离子体射频磁控溅射方法在沉积有Si3N4薄膜的蓝宝石上再沉积SiO2薄膜后再退火。本发明制备的氮化硅薄膜可满足化学计量比,薄膜的致密性良好,且能够有效降低SiO2薄膜和蓝宝石衬底之间的热应力;制备的氮化硅/氧化硅双层增透保护薄膜可明显提高蓝宝石的高温断裂强度,有效地增加蓝宝石的红外透过率。
搜索关键词: 氮化 氧化 双层 保护 薄膜 制备 方法
【主权项】:
1.一种氮化硅/氧化硅双层增透保护薄膜的制备方法,其特征在于步骤如下:步骤1:在微波电子回旋共振等离子体射频磁控溅射系统中通入Ar气,对Si靶进行预溅射5~40分钟,除去Si靶表面的氧化层;步骤2:采用ECR等离子体辅助溅射沉积方法在蓝宝石衬底上沉积Si3N4薄膜,形成镀膜蓝宝石;工艺条件为:ECR等离子体室口离基片的距离为8.0~20.0cm、ECR功率为10~500W、射频功率为1~400W、Ar气流量为0.1~40.0SCCM、N2气流量为1.0~50.0SCCM、反应室气压为0.1~15.0Pa、衬底温度为20~1000℃、溅射靶离基片的距离为3.0~15.0cm、沉积时间为0.1~10.0h;步骤3:对步骤2得到的镀膜蓝宝石进行退火处理,工艺条件为:退火温度400~1000℃、退火保护气氛N2气、退火时间0.1~8.0h;步骤4:采用ECR等离子体辅助溅射沉积方法对经过步骤3得到的沉积有Si3N4 薄膜的蓝宝石上再沉积SiO2薄膜,工艺条件为:ECR等离子体室口离基片的距离为8.0~20.0cm、ECR功率为20~500W、射频功率为40~400W、Ar气流量为3.0~40.0SCCM、O2气流量范围为1.0~30.0SCCM、反应室气压为0.1~15.0Pa、衬底温度为20~800℃、溅射靶离基片的距离为3.0~20.0cm、沉积时间为0.1~10.0h;步骤5:对经过步骤4得到的镀膜蓝宝石进行退火处理,得到Si3N4/SiO2双层增透保护薄膜;工艺条件为:退火温度为400~1000℃、退火保护气氛为O2气、退火时间为0.1~8.0h。
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