[发明专利]用于检测靶物质的分析装置、分析方法、或其中使用的器件有效
| 申请号： | 200810149164.5 | 申请日： | 2008-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN101393123A | 公开（公告）日： | 2009-03-25 |
| 发明（设计）人： | 奈良原正俊;高桥智;斋藤俊郎 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55;G01N21/41;G01N21/64;G01N33/48 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 钟 晶 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供用于检测靶物质的分析装置、分析方法和用于这些分析装置及分析方法的器件。本发明的目的涉及以高对比度来检测靶物质。本发明涉及在使用透光性的基板和引起等离子体共振的金属的靶物质分析中，设计与基板形成界面、折射率比基板低且存在开口部的低折射率层。为了在界面进行全反射，并且对配置于开口部的金属照射瞬逝光，而从基材侧照射光。然后，对通过所述瞬逝光的等离子体共振而从所述靶物质生成的光进行检测。通过本发明，可以降低瞬逝光对靶物质以外的照射，可以降低来自靶物质以外的物质，例如来自在靶物质周围浮游的分子所发出的光。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 物质 分析 装置 方法 其中 使用 器件 | ||
【主权项】：
1. 一种用于分析靶物质的分析装置，其特征在于，包含：透光性的基板；与所述基板形成界面、折射率比所述基板低且存在开口部的低折射率层；配置于所述开口部的、引起等离子体共振的金属；能够将含有靶物质的溶液保持在低折射率层侧的室；为了在所述界面进行全反射并且对所述金属照射瞬逝光，而从基材侧照射光的光源；对通过所述瞬逝光的等离子体共振而从所述靶物质生成的光进行检测的检测器。
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