[发明专利]用于检测靶物质的分析装置、分析方法、或其中使用的器件

说明书

技术领域

本发明涉及通过瞬逝光来检测靶物质的技术。涉及例如对多个DNA或蛋 白质通过瞬逝光来检测的技术。

背景技术

作为检测DNA或蛋白质等靶物质的方法，广泛使用的方法为：对靶物质 实施荧光标记，照射期望的激光等激发光，并检测产生的荧光的方法。作为以 高对比度检测荧光的方式，有将由全反射所产生的瞬逝光作为激发光的检测方 法。在这种方式中，利用从石英玻璃的背面入射的激光，在石英玻璃表面和溶 液层的界面产生瞬逝光，将该瞬逝光作为激发光，来检测石英玻璃表面的标记 物质。通常，瞬逝光的强度随着从折射率境界平面的离开而呈指数函数衰减， 在距折射率边界平面150nm左右的距离为1/e。因而，将瞬逝光作为激发光的 荧光检测，能够大幅降低来自作为检测对象的靶物质以外的荧光发光所造成的 影响，结果，可以高对比度地进行荧光检测。

在P.N.A.S2003，Vol.100，pp.3960-3964.(非专利文献1)中，使用上述方 法来检测DNA的延伸方法。具体来讲，最初，对石英玻璃供给用Cy3分子标 记的引物，所述石英玻璃上单一的DNA分子通过生物素-亲和素的蛋白质结合 而被固定。利用通过供给的引物和靶DNA分子的杂交而得到的荧光强度，来 确认靶DNA的位置信息。然后，进行引物分子的延伸反应，通过在延伸反应 中被组入的dNTP分子所产生的荧光、以及所述的位置信息，来特异性地检测 延伸反应。

在Anal.Chem.2003，75，6629-6633.(非专利文献2)中，尝试利用在石英 玻璃上导入银薄膜所产生的等离子共振，来以更高的灵敏度进行荧光检测。所 说的等离子共振，是局部存在的金属中的自由电子和入射光的振动电场相耦合 而共振的现象，通过由共振所产生的电场增强而产生激发光和荧光的增强，结 果，可以期待能进行更高灵敏度的荧光检测。作为这样的在可见光区域能得到 强共振的金属，已知有金和银等。

另一方面，在美国专利第6917726号(专利文献1)中，在期待起到光屏 蔽效果的铝薄膜上存在比激发光波长小很多的开口部，利用由该开口部所产生 的近场光来检测靶物质。

专利文献1：美国专利第6917726号

非专利文献1：P.N.A.S.2003，Vol.100，pp.3960-3964.

非专利文献2：Anal.Chem.2003，75，6629-6633.

非专利文献3：PNAS2005，Vol.102，pp.5932-5937

非专利文献4：P.N.A.S.2008，Vol.105，pp.1176-1181

发明内容

发明要解决的问题

但是，在非专利文献1的技术中，为了识别靶物质的测定位置而需要烦杂 的液体更换操作，同时，由存在于靶物质附近的浮游分子所发出的荧光也成为 噪声。上述噪声不仅引起靶物质的测定位置的误认，而且在用于识别测定位置 的荧光标记引物存在于附近的情形中，需要从评价对象中删除这些测定位置， 因此结果是不能一次测定多个不同的靶物质。

同样地，在非专利文献2的技术中，也存在靶物质附近的浮游分子所产生 的噪声高的问题。

另一方面，在专利文献1中，为了降低所述噪声，在开口部以外配置可起 到屏蔽效果的铝。但是，由于石英玻璃和铝界面的反射率不是100％，所以产 生从铝薄膜露出的光所引起的噪声。浮游分子的浓度越高，该噪声就越显著。

本发明的目的是以高对比度检测出靶物质。

解决问题的方法

本发明涉及在使用透光性的基板与引起等离子共振的金属的靶物质分析 中，设计与基板形成界面、折射率比基板低且存在开口部的低折射率层。为了 在界面上全反射，并且为了对配置于开口部的金属照射瞬逝光，而从基材侧照 射光。并且，对通过瞬逝光的等离子共振而从靶物质生成的光进行检测。

发明效果

根据本发明，可以降低瞬逝光对靶物质以外的照射，可以降低由靶物质以 外的物质，例如由在靶物质周围浮游的分子所发出的光。

附图说明

图1是对本发明的用于检测靶物质的器件的一个例子进行说明的图。

图2是对本发明的用于检测靶物质的器件的一个例子进行说明的图。

图3是对本发明的用于检测靶物质的器件的一个例子进行说明的图。

图4是对本发明的用于检测靶物质的器件的一个例子进行说明的图。