[发明专利]光掩模和光掩模的制造方法有效
申请号: | 200810130876.2 | 申请日: | 2008-08-21 |
公开(公告)号: | CN101373323A | 公开(公告)日: | 2009-02-25 |
发明(设计)人: | 吉田光一郎;井村和久 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G03F1/00 | 分类号: | G03F1/00;G03F1/14 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李贵亮 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种光掩模,具有多个遮光部、多个透光部和多个半透光部(灰色调部)光掩模(灰色调掩模),即使在形成多个半透光部的半透光膜中产生膜厚倾斜等膜厚的不均一之际,多个半透光部的曝光光的透过量也不随着光掩模上的位置而受所述不均一影响,能良好控制在使用该灰色调掩模形成的抗蚀图中的抗蚀剂膜厚。在透明衬底1上形成遮光膜(6)和半透光膜(5),对遮光膜(6)和半透光膜(5)分别进行图案化,形成多个遮光部(2)、多个透光部(3)和曝光光一部分透过的多个半透光部(4)。半透光膜(5)随着膜面的位置而曝光光的透过率不同,按照在曝光条件下多个半透光部(4)的有效透过率变为大致均一的方式进行所述图案化。 | ||
搜索关键词: | 光掩模 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种光掩模,使用在以下工序中,即,在对要被蚀刻加工的被加工层上形成的抗蚀剂膜,使用光掩模在给定的曝光条件下进行曝光,而将该抗蚀剂膜形成为所述蚀刻加工中作为掩模的抗蚀图的工序中,上述光掩模,通过在透明衬底上形成遮光膜和半透光膜,并对该透光膜和半透光膜分别进行图案化,由此形成有多个遮光部、多个透光部和使曝光光的一部分透过的多个半透光部,其特征在于,所述半透光膜,随着膜面的位置而曝光光的膜透过率不同;按照在所述曝光条件下所述多个半透光部的有效透过率为大致均一的方式,进行所述图案化。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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