[发明专利]一种切伦科夫探测器及利用其进行检测的方法有效

专利信息
申请号: 200810114448.0 申请日: 2008-06-05
公开(公告)号: CN101598799A 公开(公告)日: 2009-12-09
发明(设计)人: 王义;李树伟;李元景;李金;康克军;李玉兰;杨祎罡;岳骞;张清军;赵书清;孔祥众;毛绍基 申请(专利权)人: 清华大学;同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01T1/22 分类号: G01T1/22
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 代理人: 戚传江
地址: 100084北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种切伦科夫探测器,包括:切伦科夫辐射体,用于发射出切伦科夫光;光电二极管,与所述切伦科夫辐射体的一端耦合连接;反光膜,镀在所述切伦科夫辐射体除与所述光电二极管耦合的端面外的其余面上;避光层,设置在所述切伦科夫辐射体、光电二极管、反光膜外,所述光电二极管的引线从所述避光层中引出。本发明采用了光电二极管作为读出器件,使其在辐射成像领域中工作更加稳定、可靠;通过反射膜的设计提高光的收集效率;因为切伦科夫辐射体透光性能好,可以沿射线入射方向做得很长,从而提高对X射线的探测效率,提高最终的切伦科夫信号输出值,这些措施增强了切仑柯夫探测器在辐射成像领域的可用性。
搜索关键词: 一种 切伦科夫 探测器 利用 进行 检测 方法
【主权项】:
1、一种切伦科夫探测器,其特征在于,包括:切伦科夫辐射体,用于发射出切伦科夫光;光电二极管,与所述切伦科夫辐射体的一端耦合连接;反光膜,镀在所述切伦科夫辐射体除与所述光电二极管耦合的端面外的其余面上;避光层,设置在所述切伦科夫辐射体、光电二极管、反光膜外,所述光电二极管的引线从所述避光层中引出。
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