[发明专利]一种FPGA内嵌双端口存储器的测试方法有效
| 申请号： | 200810112419.0 | 申请日： | 2008-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN101286367A | 公开（公告）日： | 2008-10-15 |
| 发明（设计）人： | 陈雷;张帆;文治平;周涛;张志权;李学武;王勇;储鹏;张彦龙;孙华波;刘增荣 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;中国航天时代电子公司第七七二研究所 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 | 代理人： | 安丽 |
| 地址： | 100076北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种FPGA内嵌双端口存储器的测试方法，将FPGA中的内嵌双端口存储器全部配置为可选工作模式中的同一种，将同一类端口的输入并行连接到一起作为公共输入端；测试时，先采用March C算法轮流测试两类端口，然后对两类端口同时施加组合向量，进行两端口的关联性故障测试，判断存储器输出的正确性。本发明有效地完成了FPGA内嵌双端口存储器的测试，测试覆盖率达到100％，且合理利用了FPGA中空闲的资源作为检验逻辑，简化了调试过程，减少了输入输出端口，大大提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 fpga 内嵌双 端口 存储器 测试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种FPGA内嵌双端口存储器的测试方法，其特征在于步骤如下：(1)对FPGA内嵌的各双端口存储器的两个存储端口进行编号，分别为端口A(201)和端口B(202)；(2)将各内嵌双端口存储器端口A(201)的输入地址端A(203)、输入数据端A(204)、端口使能端A(205)、读写使能端A(206)、复位控制端A(207)、时钟输入端A(208)分别并联在一起作为公共输入端A(301)，将各内嵌双端口存储器端口A(201)的输出端(215)按位分别并联在一起作为并行输出端A(305)；将各内嵌双端口存储器端口B(202)的输入地址端B(209)、输入数据端B(210)、端口使能端B(211)、读写使能端B(212)、复位控制端B(213)、时钟输入端B(214)分别并联在一起作为公共输入端B(302)，将各内嵌双端口存储器端口B(202)的输出端(216)按位分别并联在一起作为并行输出端B(306)；(3)将各内嵌双端口存储器配置为相同的工作模式；(4)将各内嵌双端口存储器的端口A(201)设为有效，端口B(202)设为无效，通过公共输入端A(301)对并联的各存储器施加March C算法测试向量进行故障测试；(5)将各内嵌双端口存储器的端口B(202)设为有效，端口A(201)设为无效，通过公共输入端B(302)对并联的各存储器施加March C算法测试向量进行故障测试；(6)将各内嵌双端口存储器的端口A(201)和端口B(202)同时设为有效，通过公共输入端A(301)和公共输入端B(302)对并联的各存储器同时施加组合向量进行两端口的关联性故障测试；(7)将各内嵌双端口存储器设置为相同的其它工作模式，重复步骤(4)～(6)进行测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京时代民芯科技有限公司;中国航天时代电子公司第七七二研究所，未经北京时代民芯科技有限公司;中国航天时代电子公司第七七二研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810112419.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：手机支架
- 下一篇：可折叠升降式多功能凳
