[发明专利]电阻测量方法及元件检验过程有效

专利信息
申请号: 200810109911.2 申请日: 2008-06-04
公开(公告)号: CN101359008A 公开(公告)日: 2009-02-04
发明(设计)人: 平塚良秋;池田明雄;铃木政晴 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02;G01R31/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 党晓林
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及电阻测量方法及元件检验过程。在第一步骤中,制备两个导电板,例如表面上形成有膜的两个镀(电镀)锌钢板;将柔性导电材料保持在这两个镀(电镀)锌钢板之间。而且将间隔件保持在所述两个镀(电镀)锌钢板之间以调控它们之间的间隔,并将诸如导电布之类的测量对象保持在所述镀(电镀)锌钢板中的至少一个与所述柔性导电材料之间。在第二步骤中,在将所述柔性导电材料与所述测量对象一起保持在所述两个导电板之间的同时,测量所述两个镀(电镀)锌钢板之间的电阻。
搜索关键词: 电阻 测量方法 元件 检验 过程
【主权项】:
1、一种电阻测量方法,该电阻测量方法包括:第一步骤,该第一步骤将柔性导电材料保持在两个导电板之间,并且将测量对象插设在所述两个导电板中的至少一个与所述柔性导电材料之间;以及第二步骤,该第二步骤对将所述柔性导电材料保持在它们之间且插设有所述测量对象的所述两个导电板之间的电阻进行测量。
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