[发明专利]测量设备和控制方法

摘要

本发明涉及一种测量设备和控制方法。该测量设备(100)使用摄像设备(50)获取拍摄图像，其中该测量设备(100)测量用于拍摄一个或更多个测量对象(10)的图像的摄像设备(50)相对于测量对象的相对位置和方位。而且，基于摄像设备(50)的位置和方位，将测量对象(10)的3D模型中存在的各个几何特征投影到拍摄图像上，从而获得投影几何特征。然后，基于在拍摄图像中投影几何特征间的距离，从作为结果所生成的投影几何特征中选择要用于计算位置和方位的投影几何特征。然后，使用所选择的投影几何特征、以及在拍摄图像中检测到的与所选择的投影几何特征相对应的图像几何特征，来计算摄像设备(50)相对于测量对象的相对位置和方位。

主权项

1.一种测量设备，用于测量用于拍摄一个或更多个测量对象的图像的摄像设备相对于测量对象的相对位置和方位，所述测量设备包括：图像获取部件，用于从所述摄像设备获取拍摄图像；投影部件，用于基于所述摄像设备的位置和方位，将所述测量对象的3D模型的几何特征投影到所述拍摄图像上，以获得投影几何特征；选择部件，用于基于在所述拍摄图像中所述投影几何特征间的距离，从由所述投影部件获得的所述投影几何特征中选择要用于计算位置和方位的投影几何特征；以及计算部件，用于使用由所述选择部件选择的所述投影几何特征、以及在所述拍摄图像中检测到的与所选择的所述投影几何特征相对应的图像几何特征，来计算所述摄像设备相对于所述测量对象的相对位置和方位。