[发明专利]用于测试连接垫的电路有效

专利信息
申请号: 200810084231.X 申请日: 2008-03-27
公开(公告)号: CN101545942A 公开(公告)日: 2009-09-30
发明(设计)人: 陈英哲 申请(专利权)人: 矽创电子股份有限公司
主分类号: G01R31/04 分类号: G01R31/04;G01R1/02;G01R1/073
代理公司: 北京恒久联达知识产权代理有限公司 代理人: 李连生
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是一种用于测试连接垫的电路,其用于测试多个连接垫,该电路包含至少一个测试电路、多个测试开关、多个连接垫开关,其中该些测试开关分别耦接于测试电路与该些连接垫之间,该些连接垫开关分别耦接该些连接垫之间,如此藉由该些连接垫开关与该些测试开关的配合,即可减少用于测试连接垫的测试装置的测试探针数量,进而降低设计测试装置的难度,且可减少成本。
搜索关键词: 用于 测试 连接 电路
【主权项】:
1、一种用于测试连接垫的电路,其用于测试一个第一个连接垫与一个第二连接垫,其特征在于,该电路包含:至少一个测试电路;一个第一个测试开关,其耦接于该第一个连接垫与该测试电路之间;一个连接垫开关,其耦接于该第一个连接垫与该第二连接垫之间;以及一个第二测试开关,其耦接于该第二连接垫与该测试电路之间。
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