[发明专利]用于测试连接垫的电路

权利要求书

1.一种用于测试连接垫的电路，其用于测试一个第一个连 接垫与一个第二连接垫，其特征在于，该电路包含：

一个测试电路；

一个第一个测试开关，其耦接于该第一个连接垫与该测试 电路之间；

一个连接垫开关，其耦接于该第一个连接垫与该第二连接 垫之间；以及

一个第二测试开关，其耦接于该第二连接垫与该测试电路 之间。

2.如权利要求1所述的用于测试连接垫的电路，其特征在 于，该第一个连接垫更耦接一个测试装置的多个测试探针的其 中一个测试探针，该测试探针传送一个测试讯号至该第一个连 接垫，该测试讯号从该第一个连接垫经该第一个测试开关传送 至该测试电路或透过该连接垫开关、该第二连接垫与该第二测 试开关传送至该测试电路。

3.如权利要求1所述的用于测试连接垫的电路，其特征在 于，该第一个测试开关导通时，该连接垫开关与该第二测试开 关截止，该连接垫开关导通时，该第一个测试开关截止，且该 第二测试开关导通。

4.如权利要求1所述的用于测试连接垫的电路，其特征在 于，该第一个连接垫、该第一个测试开关、该第二测试开关、 该第二连接垫、该连接垫开关、该测试电路设置于一个集成电 路。

5.一种用于测试连接垫的电路，其用于测试一个第一个连 接垫与一个第二连接垫，其特征在于，该电路包含：

一个第一个测试电路；

一个第二测试电路；

一个第一个测试开关，其耦接于该第一个连接垫与该第一 个测试电路之间；

一个连接垫开关，其耦接于该第一个连接垫与该第二连接 垫之间；以及

一个第二测试开关，其耦接于该第二连接垫与该第二测试 电路之间。

6.如权利要求1所述的用于测试连接垫的电路，其特征在 于，该测试电路包含：

一个输出端；以及

一个二极管，其耦接于一个接地端与该输出端之间。

7.如权利要求1所述的用于测试连接垫的电路，其特征在 于，该测试电路包含：

一个第一二极管，其一端耦接于一个接地端；

一个第二二极管，其一端耦接于该第一二极管的另一端；

一个输出端，其耦接于该第二二极管的另一端。

8.如权利要求1所述的用于测试连接垫的电路，其特征在 于，该第一个测试开关与该第二测试开关分别为一个晶体管。

9.如权利要求1所述的用于测试连接垫的电路，其特征在 于，该连接垫开关为一个晶体管。

10.一种用于测试连接垫的电路，其应用于测试M个连接 垫，其特征在于，该电路包含：

一个测试电路；

M个测试开关，其分别耦接该些连接垫与该测试电路之间；

M-1个连接垫开关，其分别耦接于该些连接垫之间；

其中，M大于2。

11.如权利要求10所述的用于测试连接垫的电路，其特征 在于，该些连接垫的其中一个连接垫更耦接一个测试装置的多 个测试探针的其中一个测试探针，该测试探针传送一个测试讯 号至该测试探针耦接的该连接垫，该测试讯号从该测试探针耦 接的该连接垫经该测试探针耦接的该连接垫所耦接的该测试开 关传送至该测试电路或从该测试探针耦接的该连接垫透过该测 试探针耦接的该连接垫所耦接的该连接垫开关、耦接该连接垫 开关且并未与该测试探针耦接的该连接垫、未耦接该测试探针 的该连接垫所耦接的该测试开关而传送至该测试电路。

12.如权利要求10所述的用于测试连接垫的电路，其特征 在于，该些连接垫、该些测试开关、该些连接垫开关与该测试 电路设置于一个集成电路。