[发明专利]一种转接测试座无效
| 申请号： | 200810081944.0 | 申请日： | 2008-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN101320857A | 公开（公告）日： | 2008-12-10 |
| 发明（设计）人： | 张光荣;何巧丽 | 申请（专利权）人： | 张光荣;何巧丽 |
| 主分类号： | H01R12/18 | 分类号： | H01R12/18;H01R13/629;H01R13/639;G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 330804江西*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种转接测试座，包括接触电路板及卡插槽，所述的接触电路板的一边与所述卡插槽电连接，另一边设有金手指，所述的卡插槽内含有若干金属弹片，所述的金手指与金属弹片电连接，所述的卡插槽内含有旋转的D型轴，转动所述的D型轴，就可以使所述金属片向内联动，直至与被测试电路板插件的金手指可靠的电连接，此新型技术采用的是无磨擦点接触测试，不对内存条金手指产生任何磨擦，有效的保护了金手指外观的品质，直接有效的降低了内存条记忆体保护转接测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 转接 测试 | ||
【主权项】：
1.一种转接测试座，包括接触电路板及卡插槽，所述的接触电路板的一边与所述卡插槽电连接，另一边设有金手指，所述的卡插槽内含有若干金属弹片，所述的金手指与对应的金属弹片电连接，其特征在于，所述的卡插槽内含有可旋转的D型轴。
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