[发明专利]一种转接测试座

说明书

技术领域

本发明涉及一种电子行业上的转接测试座，尤指是指一种测试电路板的转接测试座，具体涉及一种电脑内存条转接测试座。

背景技术

随着经济日益发展及电子产品的广泛应用，电子产品市场日显成熟和绝对量化，对各种具有特定功能的电子组件如电脑内存条的需求也同样绝对巨增，这必然使电子组件生产商及其代工厂在经营各自品牌的同时，也必须考虑直接的生产测试成本问题。以往各类生产商或其代工厂他们会对其所生产的电子组件进行测试，以电脑内存条的测试为例，其测试技术发展过程有两个阶段过程：

第一过程为用电脑主机板上内存插槽由四排焊PIN通过治具压合成两排焊PIN，然后再焊接转接PCB进行测试，这种普通内存转接测试卡插槽其弹簧触片采用的是黄铜材质，弹簧触片上的端子较小；当测试时内存条记忆体垂直插入内存转接测试槽的卡插槽内时，弹簧触片上的端子往外张开夹住金手指，因存在不停的插拔测试卡插槽内的金属弹簧触片上的端子，易损坏或插跪，出现信号衰减或接触不良等问题；在测试时寿命特别短，仅为400次左右。后来，也有改成柔韧较好的磷铜弹簧触片，但寿命只在1000次以内，还有一个最重要的缺陷是它采用垂直插拔的面磨擦原理进行测试，所带来的一个严重的技术瓶颈，是根本上解决不了因垂直插拔而产生的内存条记忆体金手指与弹簧触片上的端子产生面磨擦带来的严重磨损、刮痕，甚至金手指存放时间过长因镀金层刮损发生氧化现象，从而影响到销售品质，另一个缺陷是因需要用手用力抓握内存条做垂直插拔测试，不可避免的会造成内存条记忆体上小元件的不小心碰掉而重工返修。

第二个过程是2006年5月31日公开的中国专利ZL200510090361.0，提供了一种内存条记忆体测试产品，它的方案虽然提高插拔的测试寿命，但这还是靠内存条记忆体卡插槽的金属弹片上的端子挤压来测试，仍然产生了金属弹片上的端子与内存条记忆体金手指严重的面磨擦，根本上改变不了金手指外观损坏、刮痕、氧化问题。

发明内容

为解决上述问题，本发明的目的在于提供一种转接测试座，可以从根本上解决其测试寿命和金手指外观的完好度两方面的问题，从而大幅度降低了测试成本。

为达到上述目的，本发明基本构思是：一种转接测试座，包括接触电路板及卡插槽，接触电路板的一边与卡插槽电连接，另一边设有金手指，卡插槽内含有若干金属弹片，金手指与对应的金属弹片电连接，卡插槽内含有可旋转的D型轴，当转动D型轴时，驱动金属弹片同步向内移动，直至与所要测试的电子组件的金手指可靠电连接，当把D型轴转动回原来位置，金属弹片在其本身的弹性力作用下回到原来的位置，从而与所要测试的电子组件的金手指明显的分离。

更优的，所述的D型轴与金属弹片相互垂直，并且所述的金属弹片沿着所述的D型轴的一侧直线排列。

更优的，所述的卡插槽上还设有导槽。

更优的，所述的卡插槽上还设有导扣，所述的导扣包括滑块和枢接轴，所述的滑块和所述的导槽上设有枢接孔，滑块和导槽之间通过枢接轴链接，滑块可绕枢接轴转动。

更优的，所述的D型轴的其中一个的两侧齿轮的外端设有一调整D型轴旋转角度的手柄。

更优的，在所述转接测试座上设有限制D型轴旋转角度的限位装置。

采用上述技术方案后，其有益效果首先是所要测试的电子组件可以轻松地插入卡插槽或者取出，其金手指不会被损伤或者留下擦痕，从根本上解决转接测试座的测试寿命和所要测试的电子组件金手指外观的完好度两方面的问题，从而大幅度降低了测试成本；其次是可以方便将所要测试的电子组件顺着导槽水平的插入转接测试座内，防止倾斜和接触不良；再次是采用了导扣后，可以进一步使所要测试的电子组件充分到位，并且起到在金属弹片处于工作状态即靠拢状态时，无法再插入电子组件，避免误操作带来的对转接测试座以及电子组件的损害；再次是采用限位装置，进一步防止了误操作转动过度而造成接触不良，或者金属弹片未按预想打开的问题。

作为实现本发明基本构思的第一种技术方案，在卡插槽内两侧分别设有一条可旋转的D型轴，D型轴位于金属弹片与卡插槽内壁之间，D型轴与金属弹片之间含有一绝缘层，两条D型轴的两端分别向卡插槽的外部延伸且在端部各连接有一齿轮，所述的两个齿轮相互啮合，在一齿轮的外端设有一调整两个D型轴旋转角度的手柄。