[发明专利]一种转接测试座无效

专利信息
申请号: 200810081944.0 申请日: 2008-02-27
公开(公告)号: CN101320857A 公开(公告)日: 2008-12-10
发明(设计)人: 张光荣;何巧丽 申请(专利权)人: 张光荣;何巧丽
主分类号: H01R12/18 分类号: H01R12/18;H01R13/629;H01R13/639;G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 330804江西*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 一种 转接 测试
【权利要求书】:

1.一种转接测试座,包括接触电路板及卡插槽,所述的接触电路板的一边与所述卡插槽电连接,另一边设有金手指,所述的卡插槽内含有若干金属弹片,所述的金手指与对应的金属弹片电连接,其特征在于,所述的卡插槽内含有可旋转的D型轴。

2.根据权利要求1所述的转接测试座,其特征在于,所述的D型轴有两条,分别位于卡插槽内金属弹片与卡插槽内壁之间,两条D型轴的两端均向卡插槽的外部延伸且在端部各连接有一齿轮,所述齿轮对应的相互啮合。

3.根据权利要求1或2所述的转接测试座,其特征在于,所述的D型轴与金属弹片相互垂直,并且所述的金属弹片沿着所述的D型轴的一侧直线排列。

4.根据权利要求2所述的转接测试座,其特征在于,所述的齿轮设有限位齿。

5.根据权利要求或2所述的转接测试座,其特征在于,所述的卡插槽上还设有导槽。

6.根据权利要求1或2所述的转接测试座,其特征在于所述的卡插槽上还设有导扣,所述的导扣包括滑块和枢接轴,所述的滑块和所述的导槽上设有枢接孔,滑块和导槽之间通过枢接轴链接,滑块可绕枢接轴转动。

7.根据权利要求1或2所述的转接测试座,其特征在于,所述的D型轴的其中一个的两侧齿轮的外端设有一调整D型轴旋转角度的手柄。

8.根据权利要求1所述的转接测试座,其特征在于,所述的D型轴与金属弹片之间含有一绝缘层。

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