[发明专利]一种转接测试座无效
申请号: | 200810081944.0 | 申请日: | 2008-02-27 |
公开(公告)号: | CN101320857A | 公开(公告)日: | 2008-12-10 |
发明(设计)人: | 张光荣;何巧丽 | 申请(专利权)人: | 张光荣;何巧丽 |
主分类号: | H01R12/18 | 分类号: | H01R12/18;H01R13/629;H01R13/639;G01R31/28;G01R1/04 |
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地址: | 330804江西*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 转接 测试 | ||
1.一种转接测试座,包括接触电路板及卡插槽,所述的接触电路板的一边与所述卡插槽电连接,另一边设有金手指,所述的卡插槽内含有若干金属弹片,所述的金手指与对应的金属弹片电连接,其特征在于,所述的卡插槽内含有可旋转的D型轴。
2.根据权利要求1所述的转接测试座,其特征在于,所述的D型轴有两条,分别位于卡插槽内金属弹片与卡插槽内壁之间,两条D型轴的两端均向卡插槽的外部延伸且在端部各连接有一齿轮,所述齿轮对应的相互啮合。
3.根据权利要求1或2所述的转接测试座,其特征在于,所述的D型轴与金属弹片相互垂直,并且所述的金属弹片沿着所述的D型轴的一侧直线排列。
4.根据权利要求2所述的转接测试座,其特征在于,所述的齿轮设有限位齿。
5.根据权利要求或2所述的转接测试座,其特征在于,所述的卡插槽上还设有导槽。
6.根据权利要求1或2所述的转接测试座,其特征在于所述的卡插槽上还设有导扣,所述的导扣包括滑块和枢接轴,所述的滑块和所述的导槽上设有枢接孔,滑块和导槽之间通过枢接轴链接,滑块可绕枢接轴转动。
7.根据权利要求1或2所述的转接测试座,其特征在于,所述的D型轴的其中一个的两侧齿轮的外端设有一调整D型轴旋转角度的手柄。
8.根据权利要求1所述的转接测试座,其特征在于,所述的D型轴与金属弹片之间含有一绝缘层。
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