[发明专利]一种穿通效应增强型硅光电晶体管有效
申请号: | 200810051680.4 | 申请日: | 2008-12-25 |
公开(公告)号: | CN101447524A | 公开(公告)日: | 2009-06-03 |
发明(设计)人: | 常玉春;刘欣;王玉琦;杜国同;郭树旭;王富昕;史中翩 | 申请(专利权)人: | 吉林大学 |
主分类号: | H01L31/11 | 分类号: | H01L31/11 |
代理公司: | 长春吉大专利代理有限责任公司 | 代理人: | 张景林;刘喜生 |
地址: | 130023吉林省*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明涉及一种穿通效应增强型硅光电晶体管。包括NPN和PNP两种类型,其由下至上包括硅衬底层,位于硅衬底层上的P阱(或N阱)层,位于P阱(或N阱)层内的两个分立的N型(或P型)重掺杂有源区,位于P阱(或N阱)层内、被两个N型(或P型)重掺杂有源区环绕的场区二氧化硅层,位于P阱(或N阱)层窄侧和场区二氧化硅层上表面的两个分立的条形栅氧二氧化硅层,覆盖在栅氧二氧化硅层上、与栅氧二氧化硅层形状相同的两个分立的多晶硅层,位于P阱(或N阱)层宽侧上表面且与两个分立的N型(或P型)重掺杂有源区的分别连接的条形金属电极层。该器件可以有效提高器件光电转换增益,限制器件的暗电流,降低器件噪声,得到高的信噪比。 | ||
搜索关键词: | 一种 效应 增强 光电晶体管 | ||
【主权项】:
1、NPN型穿通效应增强型硅光电晶体管,其特征在于:由下至上依次包括硅衬底层(1),位于硅衬底层(1)内的P阱层(2),位于P阱层(2)内的两个分立的N型重掺杂有源区(3,3’),位于P阱层内、被两个N型重掺杂有源区(3,3’)环绕的场区二氧化硅层(6),位于P阱层(2)窄侧和场区二氧化硅层(6)上表面的两个分立的条形栅氧二氧化硅层(4,4’),覆盖在栅氧二氧化硅层(4,4’)上、与栅氧二氧化硅层形状相同的两个分立的多晶硅层(5,5’),位于P阱层(2)宽侧上表面且与两个分立的N型重掺杂有源区(3,3’)分别相连的条形金属电极层(7,7’)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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