[发明专利]一种基于拟合优度检验的雷达目标恒虚警检测方法有效
申请号: | 200810045692.6 | 申请日: | 2008-07-30 |
公开(公告)号: | CN101329400A | 公开(公告)日: | 2008-12-24 |
发明(设计)人: | 皮亦鸣;邓晓波;曹宗杰;闵锐;李晋 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01S13/04 | 分类号: | G01S13/04;G01S7/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610054四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明属于雷达目标检测技术领域,涉及一种雷达目标恒虚警检测方法。本发明主要包括如下步骤:1)通过对数变换把Weibull型的背景分布转化为位置-尺度(Location-Scale)分布;2)对背景样本进行排序截尾(或去头)处理以抑制干扰目标的影响,并采有最大无偏估计器估计位置和尺度参数;3)用此估计参数对待检单元中的样本做归一化处理;4)利用Anderson-Darling检验判断其是否服从背景分布,如果不服从背景分布,则判断有目标存在,否则判断无目标存在。本发明利用的是目标回波与背景杂波分布特性的差异性,和传统的基于自适应门限的检测方法相比,它受背景分布特性和干扰目标的影响很小,对非高斯环境和多目标干扰环境,具有很强的适应性。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 拟合 检验 雷达 目标 恒虚警 检测 方法 | ||
【主权项】:
1、一种基于拟合优度检验的雷达目标恒虚警检测方法,包括以下步骤:步骤1通过雷达接收系统接收N个脉冲,形成快慢时间域上的N行R列的数据矩阵,其中R表示雷达探测空间总的距离单元数;步骤2将步骤1所得的数据矩阵进行对数放大,将威布尔型的背景分布转化为极大值分布型的位置-尺度类背景分布,得到对数放大后的N行R列的数据矩阵;步骤3根据步骤2所得的对数放大后的N行R列的数据矩阵,对于任一待检距离单元,都对应有N个待检样本Z={z1,z2,...,zN};选择前后相邻的M个距离单元作为参考单元,得到L=M×N个背景样本;步骤4利用步骤3所得的背景样本估计背景分布的位置参数和尺度参数,具体包括以下步骤:步骤4-1对L=M×N个背景样本从小到大排序并删除后面的r个样本以屏蔽干扰目标影响,得到有序背景样本序列Y=(y(1),...,y(L-r))T;步骤4-2采用最优线性无偏估计器,按下式计算得到背景分布位置参数估计值
和尺度参数估计值![]()
θ ^ L θ ^ S = ( D T C 0 - 1 D ) - 1 D C 0 - 1 Y - - - ( 2 ) ]]> 其中,D=(IL-r u0)是(L-r)×2的辅助矩阵,而IL-r是一个(L-r)维的单位向量;u0和C0分别是(L-r)维标准有序向量Y0的均值和协方差矩阵;步骤5对步骤3所得的任一待检距离单元的N个待检样本Z={z1,z2,...,zN}按下式进行归一化处理,得到归一化后的待检样本Z′={z′1,z′2,...,z′N}:Z ′ = Z - θ ^ L θ ^ S - - - ( 3 ) ]]> 步骤5对归一化后的待检距离单元样本Z′={z′1,z′2,...,z′N}采用Anderson-Darling拟合优度检验:A 2 = - Σ i = 1 N 2 i - 1 N ( ln ( F ( z ( i ) ′ ) ) - ln ( F ( z ( n - i + 1 ) ′ ) ) ) - n H 1 > H 0 < η - - - ( 4 ) ]]> 其中,F(·)表示极大值分布函数;如果检验统计量A2大于所设门限η,H1假设被接受,即样本Z′={z′1,z′2,...,z′N}不服从极大值分布型背景分布,从而判断出该待检距离单元有目标存在;如果检验统计量A2小于所设门限η,H0假设被接受,即样本Z′={z′1,z′2,...,z′N}服从极大值分布型背景分布,从而判断出该待检距离单元没有目标存在。
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