[发明专利]非易失性存储器可靠性的测试方法和装置有效
| 申请号： | 200810040767.1 | 申请日： | 2008-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN101630534A | 公开（公告）日： | 2010-01-20 |
| 发明（设计）人： | 简维廷;郭强;龚斌 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/10 | 分类号： | G11C29/10 |
| 代理公司： | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) | 代理人： | 翟 羽 |
| 地址： | 201210*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种用于非易失性存储器可靠性测试的方法，包括如下步骤：在K个分别具有Nm个区块的非易失性存储器的每一个中分别选取N个区块；对被选取的K×N个区块分别执行T次测试程序，得到测试数据；根据测试数据，统计执行测试程序次数与该次数的测试中累计发生失效的区块数目之间的数据关系并绘制测试曲线；确定等效失效区块数目判断标准；在测试曲线中读出执行次数值对应的失效数目；将得到的失效数目与等效失效区块数目判断标准相比较，判断是否合格。本发明还提供了一种用于非易失性存储器可靠性测试的装置。本发明的优点在于，所述测试方法和装置在不丧失统计学意义情况下，降低测试的时间，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 非易失性存储器 可靠性 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种非易失性存储器可靠性的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：在K个分别具有Nm个区块的非易失性存储器的每一个中分别选取N个区块；对被选取的K×N个区块分别执行T次测试程序，得到测试数据，所述测试数据包括失效区块的数目和每一个失效区块在发生失效时已经执行测试程序的次数，所述T×N＜Tm×Nm，所述Tm为标准执行次数；根据测试数据，统计执行测试程序的次数与执行该次数的测试后累计发生失效的区块数目之间的数据关系并绘制测试曲线；根据测试中所采用的参数，确定采用此方法的等效失效区块数目判断标准n′；在测试曲线中读出与标准执行次数值Tm对应的失效数目n；将得到的失效数目n与等效失效区块数目判断标准n′相比较，若n＜n′，则该批次非易失性存储器为合格，若n≥n′则为不合格。
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