[发明专利]一次写入多次读取的电存储器件及其制备方法无效
申请号: | 200810038578.0 | 申请日: | 2008-06-05 |
公开(公告)号: | CN101290971A | 公开(公告)日: | 2008-10-22 |
发明(设计)人: | 徐伟;董元伟 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01L51/05 | 分类号: | H01L51/05;H01L51/30;H01L51/10;H01L51/40;H01L27/28;G11C11/56;G11C16/02 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 20043*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明属于微电子器件和功能薄膜技术领域,具体涉及一种一次写入多次读取的电存储器件及其制备方法。器件结构为:铜-配位聚合物介质层-铝(Cu-Coordination polymer-Al)结构,二端的金属层做电极。其中的配位聚合物介质层为由特定结构的有机配体分子N2S3与铜底电极表面反应,原位形成的配位聚合物薄膜。本发明制备的薄膜器件具有极高的可靠性和成品率,二种状态的阻值比为107~108,可作为一次写入多次读取器件使用。此外,也可以用做其他领域,比如作为过电压保护器使用。 | ||
搜索关键词: | 一次 写入 多次 读取 存储 器件 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1、一次写入多次读取的电存储器件,其特征在于该器件的结构组成依次为金属底电极、配位聚合物介质层、金属顶电极;其中金属底电极为铜膜,厚度为150-300nm;金属顶电极为铝膜,厚度为80-150nm;中间的配位聚合物介质层是由有机配体分子与金属底电极表面发生反应,原位形成的配位聚合物薄膜,该有机配体为2,5-二巯基-1,3,4-噻二唑,分子式为C2H2N2S3。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于复旦大学,未经复旦大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810038578.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
H01L51-05 .专门适用于整流、放大、振荡或切换且并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的电容器或电阻器
H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
H01L51-50 .专门适用于光发射的,如有机发光二极管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料选择
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
H01L51-05 .专门适用于整流、放大、振荡或切换且并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的电容器或电阻器
H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
H01L51-50 .专门适用于光发射的,如有机发光二极管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料选择