[发明专利]判断待测面板的方法及其系统无效

专利信息
申请号: 200810027732.4 申请日: 2008-04-28
公开(公告)号: CN101571628A 公开(公告)日: 2009-11-04
发明(设计)人: 宋尚轩;谢冠生 申请(专利权)人: 深超光电(深圳)有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G01N21/88
代理公司: 东莞市中正知识产权事务所 代理人: 侯来旺
地址: 518109广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明主要涉及一种判断待测面板的方法及其系统,尤其是指一种利用判断伺服器自动判断待测面板等级的方法;该系统係由判断伺服器及工作平台组成,本发明可应用于CT2测试、面板模组组装测试。判断伺服器与工作平台连接,判断伺服器内建复数面板等级,于工作平台输入待测面板的缺陷资讯后,工作平台将缺陷资讯传递给判断伺服器后,由判断伺服器判断待测面板的等级,并将待测面板的等级回馈给工作平台。
搜索关键词: 判断 面板 方法 及其 系统
【主权项】:
1.一种判断待测面板的系统,其包括:一判断伺服器及一工作平台,其特征在于,该判断伺服器,内建复数面板等级;又,该工作平台,与该判断伺服器连接,于该工作平台输入每一定待测面板的缺陷资讯后,该工作平台将缺陷资讯传递给该判断伺服器后,由该判断伺服器判断该待测面板的等级,并将该待测面板的等级回馈给该工作平台。
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