[发明专利]判断待测面板的方法及其系统无效
申请号: | 200810027732.4 | 申请日: | 2008-04-28 |
公开(公告)号: | CN101571628A | 公开(公告)日: | 2009-11-04 |
发明(设计)人: | 宋尚轩;谢冠生 | 申请(专利权)人: | 深超光电(深圳)有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G01N21/88 |
代理公司: | 东莞市中正知识产权事务所 | 代理人: | 侯来旺 |
地址: | 518109广东省深圳市宝安*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明主要涉及一种判断待测面板的方法及其系统,尤其是指一种利用判断伺服器自动判断待测面板等级的方法;该系统係由判断伺服器及工作平台组成,本发明可应用于CT2测试、面板模组组装测试。判断伺服器与工作平台连接,判断伺服器内建复数面板等级,于工作平台输入待测面板的缺陷资讯后,工作平台将缺陷资讯传递给判断伺服器后,由判断伺服器判断待测面板的等级,并将待测面板的等级回馈给工作平台。 | ||
搜索关键词: | 判断 面板 方法 及其 系统 | ||
【主权项】:
1.一种判断待测面板的系统,其包括:一判断伺服器及一工作平台,其特征在于,该判断伺服器,内建复数面板等级;又,该工作平台,与该判断伺服器连接,于该工作平台输入每一定待测面板的缺陷资讯后,该工作平台将缺陷资讯传递给该判断伺服器后,由该判断伺服器判断该待测面板的等级,并将该待测面板的等级回馈给该工作平台。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深超光电(深圳)有限公司,未经深超光电(深圳)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810027732.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。