[发明专利]用于恢复存储器故障的方法和系统

摘要

本申请公开了一种用于维修计算机系统中存储器故障的方法和系统，一方面，该方法和系统确定用于测试替代发生故障的存储单元的新存储单元的一个或多个测试模式和时间持续期。将该测试模式写入新存储单元，并从新存储单元中读取该测试模式。将该读取的测试模式与被用于写入的测试模式相比较。如果读取的测试模式和写入的测试模式不匹配，进行进一步的维修活动。如果它们匹配，重复测试模式的写入和读取，直到用于测试的时间持续期期满，当写入和读取测试成功地完成测试时间持续期时，可以将该新存储器配置为可用于使用。

主权项

1.一种用于维修计算机系统中存储器故障的方法，包含：接收发生故障的存储单元已被替代并测试存储子系统中的新存储单元的命令，该存储子系统具有一个或多个正同时被运行的处理器使用的存储单元；确定测试模式；确定测试该新存储单元的时间持续期；将该测试模式写入该新存储单元；从该新存储单元中读取写入的测试模式；比较读取的测试模式和写入的测试模式，如果读取的测试模式和写入的测试模式不匹配，则通知该新存储单元是坏的，如果读取的测试模式和写入的测试模式匹配，则确定用于测试的该时间持续期是否已期满；如果该时间持续期还没有期满，则重复写入、读取和比较的步骤；以及如果该时间持续期已期满，则将该新存储器配置为可用于使用。