[发明专利]用于校准操作装置的系统和方法无效
| 申请号： | 200780039103.7 | 申请日： | 2007-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN101595437A | 公开（公告）日： | 2009-12-02 |
| 发明（设计）人： | 马丁·科尔梅尔;赖纳·克拉平格 | 申请（专利权）人： | ABB股份有限公司 |
| 主分类号： | G05B19/401 | 分类号： | G05B19/401;B25J9/16 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人： | 张天舒 |
| 地址： | 奥地利*** | 国省代码： | 奥地利;AT |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于校准操作装置(4)的系统和方法。根据本发明，当通过布置在操作装置(4)和工具(6)之间的至少一个测量装置来移动工件(2)时，测量至少一个控制变量。使用检测的控制变量测量值，使测量装置(8)、工具(6)和工件(2)相互作用，来确定在多维空间中工件(2)的至少两个表面(A，B)。根据所述面的合成交叉线(S)来确定和/或准备用于转换的优化轨迹轮廓的轨迹坐标。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 校准 操作 装置 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于校准操作装置的系统，尤其是相对于工件校准所述操作装置，却具有操作装置(4)，尤其是自动机械(4)，其中，所述操作装置具有至少一个工具(6)或至少一个工件(2)以及用于记录设置于其上的至少一个可控变量(F)的至少一个测量装置(8)，其中，当所述测量装置(8)、所述工具(6)和所述工件(2)相互作用而横移所述工件时设置的调整装置(10)使用所述至少一个可控变量(F)来确定多维空间中的至少两个面(A，B)，并提供所述面的合成交叉线(S)作为用于实施的优化轨迹轮廓的轨迹坐标。
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