[发明专利]用于校准操作装置的系统和方法无效

专利信息
申请号: 200780039103.7 申请日: 2007-10-18
公开(公告)号: CN101595437A 公开(公告)日: 2009-12-02
发明(设计)人: 马丁·科尔梅尔;赖纳·克拉平格 申请(专利权)人: ABB股份有限公司
主分类号: G05B19/401 分类号: G05B19/401;B25J9/16
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人: 张天舒
地址: 奥地利*** 国省代码: 奥地利;AT
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摘要:
搜索关键词: 用于 校准 操作 装置 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种用于校准操作装置的系统,尤其是相对于工件校准所述操作装置,却具有操作装置(4),尤其是自动机械(4),其中,所述操作装置具有至少一个工具(6)或至少一个工件(2)以及用于记录设置于其上的至少一个可控变量(F)的至少一个测量装置(8),其中,当所述测量装置(8)、所述工具(6)和所述工件(2)相互作用而横移所述工件时设置的调整装置(10)使用所述至少一个可控变量(F)来确定多维空间中的至少两个面(A,B),并提供所述面的合成交叉线(S)作为用于实施的优化轨迹轮廓的轨迹坐标。

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,设置控制装置(14)用于所述操作装置(4)的工艺控制和/或运动控制。

3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,设置用于有线或无线通信和/或数据传输的至少一个接口可用于向用于实施的所述操作装置(4)的所述控制装置(14)传输所提供的轨迹坐标和/或所述优化轨迹轮廓。

4.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其特征在于,所述调整装置(10)可集成在所述控制装置(14)中,和/或为所述控制装置(14)的一部分的形式。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的系统,其特征在于,所述调整装置(10)可集成在所述测量装置(8)中,和/或为所述测量装置(8)的一部分的形式。

6.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其特征在于,确定所述轨迹坐标和/或所述优化轨迹轮廓相对于所述工件(2)校准所述工具(6)。

7.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其特征在于,考虑到预定参数,执行各个加工和/或处理工艺一次或多次,直到当前被执行的所述工具(6)和/或操作装置(4)的各个加工轨迹对应于使用用于所述面的所述交叉线(S)确定的轨迹轮廓,使得被加工和/或处理的所述工件(2)的最终几何形状在预定公差内。

8.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其特征在于,所述操作装置(4)的至少一个轴的坐标系统被用作用于确定所述轨迹坐标和/或轨迹曲线的参考。

9.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其特征在于,使用多轴操作装置(4),尤其是六轴操作装置(4)。

10.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其特征在于,使用单轴操作装置(4)。

11.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其特征在于,可相对于将被加工的工件(2)校准所述操作装置(4),和/或可以在加工和/或处理工艺之前和/或在加工和/或处理工艺期间确定用于获得优化轨迹轮廓的轨迹坐标。

12.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其特征在于,可相对于将被加工的工件(2)校准所述操作装置(4),和/或尤其基于预定参数,连续或循环或不连续地确定用于获得优化轨迹轮廓的轨迹坐标。

13.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其特征在于,在程序控制下和/或基于参数,相对于将被加工的工件(2)校准所述操作装置(4)。

14.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其特征在于,所述至少一个测量装置(8)被配置在所述操作装置(4)的末端。

15.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其特征在于,在所述操作装置(4)和所述工具(6)之间将所述至少一个测量装置(8)配置在所述操作装置(4)的末端和/或与它们物理连接。

16.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其特征在于,所述至少一个测量装置(8)具有用于记录力和/或力矩和/或力和/或力矩差的至少一个传感器。

17.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其特征在于,保持装置(20)被设置用于保持所述至少一个工具(6)和/或至少一个工件(2),和/或配置在所述操作装置(4)的末端。

18.根据权利要求17所述的系统,其特征在于,配置在所述操作装置(4)的末端的所述至少一个测量装置(8)物理连接至所述保持装置(20)。

19.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其特征在于,来自所述至少一个测量装置(8)的可控变量测量值和/或各个合成测量信号可作为绝对值输出。

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