[发明专利]高效的双能X射线衰减测量

摘要

说明了一种方法和一种CT系统，用于测量对象的双能X射线衰减数据。该CT系统包括：可旋转固定器；X射线源，其包括两个不同的X射线焦点；以及X射线检测设备，其包括多个呈现出不同的频谱灵敏度的检测器元件。所述方法包括步骤：(a)调整X射线源，以使其发出源自第一焦点的X射线，(b)分别用第一检测器元件和第二检测器元件获得第一衰减数据，(c)将X射线焦点不连续地移动到第二焦点，以及(d)分别用两种类型的检测器元件获得第二衰减数据。从而，所述的两个焦点在空间上彼此分离，以便源自第一焦点的第一波束路径穿过对象内的特定体素并撞击到第一检测器元件上，源自第二X射线焦点的第二波束路径穿过同一体素并撞击到第二检测器元件上。

主权项

1、一种方法，用于借助于计算机断层摄影系统(100)测量受检查对象(210)的双能X射线衰减数据，所述计算机断层摄影系统(100)包括：-可旋转固定器(101)，其可围绕旋转轴(102)旋转；-X射线源(105)，其包括第一X射线焦点(106a)和第二X射线焦点(106b)，所述X射线源(106)安装在所述可旋转固定器(101)上；以及-X射线检测设备(215)，其包括多个检测器元件(216a，216b)，将所述检测器元件(216a，216b)划分为第一组第一检测器元件(216a)和第二组第二检测器元件(216b)，其中，所述第一检测器元件(216a)和所述第二检测器元件(216b)呈现出不同的频谱灵敏度，并且所述X射线检测设备(215)安装在所述可旋转固定器(101)上并且关于所述旋转轴(102)而与所述X射线源(205)相对，所述方法包括步骤：调整所述X射线源(205)，以使其发出源自所述第一X射线焦点(206a)的X射线；分别用所述第一检测器元件(216a)和所述第二检测器元件(216b)获得第一X射线衰减数据；将所述X射线焦点从所述第一X射线焦点(206a)移动到所述第二X射线焦点(206b)；并且分别用所述第一检测器元件(216a)和所述第二检测器元件(216b)获得第二X射线衰减数据，其中，所述的两个X射线焦点(206a，206b)在空间上彼此分离，以使得源自所述第一X射线焦点(206a)的第一波束路径(207a)穿过所述对象(210)内的特定体素(230)并撞击到第一检测器元件(216a)上，源自所述第二X射线焦点(206b)的第二波束路径(208a)穿过同一体素(230)并撞击到第二检测器元件(216b)上，并且其中，以不连续的方式将所述X射线焦点从所述第一X射线焦点(206a)移动到所述第二X射线焦点(206b)。