[发明专利]高效的双能X射线衰减测量

权利要求书

1、一种方法，用于借助于计算机断层摄影系统(100)测量受检查对象(210)的双能X射线衰减数据，所述计算机断层摄影系统(100)包括：

-可旋转固定器(101)，其可围绕旋转轴(102)旋转；

-X射线源(105)，其包括第一X射线焦点(106a)和第二X射线焦点(106b)，所述X射线源(106)安装在所述可旋转固定器(101)上；以及

-X射线检测设备(215)，其包括多个检测器元件(216a，216b)，

将所述检测器元件(216a，216b)划分为第一组第一检测器元件(216a)和第二组第二检测器元件(216b)，其中，所述第一检测器元件(216a)和所述第二检测器元件(216b)呈现出不同的频谱灵敏度，并且

所述X射线检测设备(215)安装在所述可旋转固定器(101)上并且关于所述旋转轴(102)而与所述X射线源(205)相对，

所述方法包括步骤：

调整所述X射线源(205)，以使其发出源自所述第一X射线焦点(206a)的X射线；

分别用所述第一检测器元件(216a)和所述第二检测器元件(216b)获得第一X射线衰减数据；

将所述X射线焦点从所述第一X射线焦点(206a)移动到所述第二X射线焦点(206b)；并且

分别用所述第一检测器元件(216a)和所述第二检测器元件(216b)获得第二X射线衰减数据，

其中，所述的两个X射线焦点(206a，206b)在空间上彼此分离，以使得源自所述第一X射线焦点(206a)的第一波束路径(207a)穿过所述对象(210)内的特定体素(230)并撞击到第一检测器元件(216a)上，源自所述第二X射线焦点(206b)的第二波束路径(208a)穿过同一体素(230)并撞击到第二检测器元件(216b)上，并且

其中，以不连续的方式将所述X射线焦点从所述第一X射线焦点(206a)移动到所述第二X射线焦点(206b)。

2、如权利要求1所述的方法，还包括步骤：

将用所述第一检测器元件(216a)获得的第一X射线衰减数据与用所述第一检测器元件(216a)获得的第二X射线衰减数据相组合，和/或

将用所述第二检测器元件(216b)获得的第一X射线衰减数据与用所述第二检测器元件(216b)获得的第二X射线衰减数据相组合。

3、如权利要求1所述的方法，其中，

通过所述第一波束路径(207a)撞击的所述第一检测器元件(216a)与通过所述第二波束路径(208a)撞击的所述第二检测器元件(216b)是相邻的检测器元件(116)。

4、如权利要求1所述的方法，其中，

在由所述可旋转固定器(101)的角度位置所定义的多个不同观察角度上，执行所述的调整所述X射线源(205)、获得第一X射线衰减数据、移动所述X射线焦点以及获得第二X射线衰减数据的步骤。

5、如权利要求4所述的方法，其中，

产生衰减图，其表示在所述受检查对象(210)内的多个体素(230，231)的所述X射线衰减数据，并且

对于进一步的放射学检查方法的数据评价考虑所述衰减图。

6、如权利要求1所述的方法，其中，

测量行李的双能X射线衰减数据。

7、如权利要求1所述的方法，其中，

-所述X射线源(105)至少还包括第三X射线焦点，并且

-所述X射线检测设备(115)至少还包括第三检测器元件，其具有分别与所述第一和所述第二检测器元件不同的频谱灵敏度，

所述方法还包括步骤：

以不连续方式将所述X射线焦点从所述第二X射线焦点移动到所述第三X射线焦点，并且

获得第三X射线衰减数据，

其中，

所述的获得所述第一、第二和第三衰减数据的步骤每一个都包括使用所述第一、第二和第三检测器元件(116)的独立数据采集，并且

其中，

所述第二和第三X射线焦点在空间上彼此分离，以使得源自所述第三X射线焦点的第三波束路径穿过所述体素(230)并撞击到所述第三检测器元件上。