[实用新型]测试电路板架构有效

专利信息
申请号: 200720310124.5 申请日: 2007-12-04
公开(公告)号: CN201122174Y 公开(公告)日: 2008-09-24
发明(设计)人: 滕贞勇;甘少天;陈昱升 申请(专利权)人: 普诚科技股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所 代理人: 刘新宇
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型揭露一种测试电路板架构,使用于包括有一测试机以及一支持器的测试系统中,测试电路板架构用以传递测试机所产生的多个测试信号,以对置放于支持器上的至少二待测试元件进行测试。其包括有一转接板、一乘载板以及至少二连接接口。转接板耦接于支持器,设置有至少二连接插槽,分别耦接于至少二待测试元件。乘载板耦接至测试机,设置有至少二接合插槽,至少二接合插槽对应于至少二连接插槽而设置。至少二连接接口耦接于至少二连接插槽以及至少二接合插槽之间,用以传递多个测试信号以对至少二待测试元件进行测试。本实用新型可提升芯片测试的便利性以及芯片测试的准确性。
搜索关键词: 测试 电路板 架构
【主权项】:
1.一种测试电路板架构,其特征在于,使用于包括有一测试机以及一支持器的一测试系统中,该测试电路板架构用以传递该测试机所产生的多个测试信号,以对置放于该支持器上的至少二待测试元件进行测试,其中该测试电路板架构包括有:一转接板,耦接于该支持器,其设置有至少二连接插槽,该至少二连接插槽分别耦接于该至少二待测试元件,所述连接插槽分别包括多个连接端子以及一判断端子;一乘载板,耦接至该测试机,其设置有至少二接合插槽,所述接合插槽分别包括多个接合插孔以及一判断插孔,该至少二接合插槽对应于该至少二连接插槽而设置,而所述判断插孔对应于所述判断端子而设置;以及至少二连接接口,耦接于该至少二连接插槽以及该至少二接合插槽之间,用以传递该多个测试信号以对该至少二待测试元件进行测试。
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