[实用新型]测试电路板架构

说明书

技术领域

本实用新型相关于测试电路板架构，尤指一种用来防止待测试芯片位置放置错误的测试电路板架构。

背景技术

为了确保集成电路(integrated circuit，IC)出货时的品质，在完成制造过程之后，一般都会对每一个IC执行测试，制造商会依据对IC执行测试的结果，来决定此IC是否合格，并据以判断是否可将此IC供应给下游的厂商。

请参阅图1，图1所示为已知技术用来执行IC量产测试的测试架构示意图。如图1所示，在此一测试架构中，是使用测试机(tester)10来作为测试一待测试元件(Device Under Test，DUT)221～224的工具。其中，待测试元件221～224可为一待测试的集成电路(IC)，而为了测试方便，待测试元件221～224通常置放于一支持器(Handler)20上。

请参阅图1以及图2，图2所示为已知技术用来执行IC量产测试的测试电路板架构的示意图。如图1以及图2所示，在待测试元件221～224的测试过程中，通常先将待测试元件221～224置放于支持器20上的转接板32，将待测试元件221～224的每一个管脚(PIN)耦接于转接板32所包括的连接插槽321～324其分别具有的端子P1～P17以及P_NC后，再由转接板32上的连接插槽321～324耦接至测试机10上的乘载板34所包括的接合插槽341～344具有的插孔S1～S17以及S_NC，其中，每一个待测试元件221～224所耦接的连接插槽321～324皆需通过一条连接线(CABLE)361～364连接到其对应的接合插槽341～344，借此传递测试机10的测试信号以及待测试元件221～224所产生的输出信号，以判断待测试元件221～224是否通过测试。

在此举有4个待测试元件为例，如果要测试4个待测试元件221～224时，则需要4条连接线361～364相对应的耦接至连接插槽321～324以及接合插槽341～344，又假设每一个待测试元件221～224均具有18个管脚时，则每一条连接线361～364内又必须包括有18条子传输线，分别相对应耦接至连接插槽321～324以及接合插槽341～344所包括的端子P1～P17及P_NC以及插孔S1～S17及S_NC，因此，总计需要72条子传输线才能顺利进行测试，由于每个连接插槽321～324以及接合插槽341～344所包括的端子P1～P17及P_NC以及插孔S1～S17及S_NC的位置皆相同，所以在这种情况下，非常容易发生子传输线连接错误的现象，此外，也由于每个端子P1～P17及P_NC以及插孔S1～S17及S_NC的位置皆相同，因此亦有可能会发生即使连接错误，测试机10却判定待代测试元件221～224通过测试的情形，进而影响测试结果的正确性，而产生无法正确完成对待测试元件221～224进行测试的问题。

实用新型内容

因此，本实用新型的目的之一，在于提供一种测试电路板架构可用防止待测试芯片位置放置错误，以提升芯片测试的便利性以及芯片测试的准确性，以解决已知技术所面临的问题。

本实用新型提供一种测试电路板架构，使用于包括有一测试机(图未示)以及一支持器(图未示)的一测试系统中。测试电路板架构用以传递该测试机所产生的多个测试信号，以对置放于该支持器上的至少二待测试元件进行测试。测试电路板架构包括有一转接板、一乘载板以及至少二连接接口。转接板耦接于该支持器，其设置有至少二连接插槽，该至少二连接插槽分别耦接于该至少二待测试元件，所述连接插槽分别包括多个连接端子以及一判断端子。乘载板耦接至该测试机，其设置有至少二接合插槽，所述接合插槽分别包括多个接合插孔以及一判断插孔，该至少二接合插槽对应于该至少二连接插槽而设置，而所述判断插孔对应于所述判断端子而设置。至少二连接接口，耦接于该至少二连接插槽以及该至少二接合插槽之间，用以传递该多个测试信号以对该至少二待测试元件进行测试。其中所述判断插孔的位置与其所对应的该判断端子的位置相对应。

本实用新型所述的测试电路板架构，所述连接插槽包括一第一连接插槽以及一第二连接插槽，该第一连接插槽包括一第一判断端子，该第二插槽包括一第二判断端子，其中该第一判断端子位于相对于该第一连接插槽的一第一相对位置，而该第二判断端子位于相对于该第二连接插槽的一第二相对位置。