[实用新型]测试电路板架构

权利要求书

1.一种测试电路板架构，其特征在于，使用于包括有一测试机以及一支持器的一测试系统中，该测试电路板架构用以传递该测试机所产生的多个测试信号，以对置放于该支持器上的至少二待测试元件进行测试，其中该测试电路板架构包括有：

一转接板，耦接于该支持器，其设置有至少二连接插槽，该至少二连接插槽分别耦接于该至少二待测试元件，所述连接插槽分别包括多个连接端子以及一判断端子；

一乘载板，耦接至该测试机，其设置有至少二接合插槽，所述接合插槽分别包括多个接合插孔以及一判断插孔，该至少二接合插槽对应于该至少二连接插槽而设置，而所述判断插孔对应于所述判断端子而设置；以及

至少二连接接口，耦接于该至少二连接插槽以及该至少二接合插槽之间，用以传递该多个测试信号以对该至少二待测试元件进行测试。

2.根据权利要求1所述的测试电路板架构，其特征在于，所述判断插孔的位置与其所对应的该判断端子的位置相对应。

3.根据权利要求2所述的测试电路板架构，其特征在于，所述连接插槽包括一第一连接插槽以及一第二连接插槽，该第一连接插槽包括一第一判断端子，该第二插槽包括一第二判断端子，其中该第一判断端子位于相对于该第一连接插槽的一第一相对位置，而该第二判断端子位于相对于该第二连接插槽的一第二相对位置。

4.根据权利要求2所述的测试电路板架构，其特征在于，所述测试信号中包括有至少二判断信号，用以判断所述判断端子是否分别耦接于其所对应的所述判断插孔，以进一步判断所述待测试元件是否正确连接至该测试机。

5.根据权利要求1所述的测试电路板架构，其特征在于，该至少二连接接口分别包括有多条子连接线，该多条子连接线用以分别将该多个连接端子以及该判断端子分别耦接于相对应的所述接合插孔以及该判断插孔，以传递该多个测试信号。

6.根据权利要求5所述的测试电路板架构，其特征在于，该至少二连接接口分别为一总线。

7.根据权利要求1所述的测试电路板架构，其特征在于，该多个连接端子的个数大于该待测试元件所包括的多个管脚的个数。

8.根据权利要求1所述的测试电路板架构，其特征在于，该待测试元件为一集成电路。

9.根据权利要求1所述的测试电路板架构，其特征在于，该乘载板为一印刷电路板。

10.根据权利要求1所述的测试电路板架构，其特征在于，该转接板为一印刷电路板。