[实用新型]芯片测试电路系统无效
| 申请号： | 200720181786.7 | 申请日： | 2007-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN201096869Y | 公开（公告）日： | 2008-08-06 |
| 发明（设计）人： | 贾力;江猛 | 申请（专利权）人： | 苏州市华芯微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京华夏博通专利事务所 | 代理人： | 王建国 |
| 地址： | 215011江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种芯片测试电路系统，包括一控制单元和一用于连接待测芯片的键盘矩阵，所述键盘矩阵用于实现待测芯片不同管脚之间的短接，其特征在于所述键盘矩阵由复数个模拟开关模块组成。本实用新型的有益效果在于：用具有开关功能的集成电路来代替传统采用的电子继电器，简化了电路结构，使控制更方便，并且具扩展能力，应用更灵活。采用模拟开关不仅降低了成本，还有利于降低整个系统的功耗。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 电路 系统 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试电路系统，包括一控制单元和一用于连接待测芯片的键盘矩阵，所述键盘矩阵用于实现待测芯片不同管脚之间的短接，其特征在于所述键盘矩阵由复数个模拟开关模块组成。
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