[实用新型]芯片测试电路系统

权利要求书

1.一种芯片测试电路系统，包括一控制单元和一用于连接待测芯片的键盘矩阵，所述键盘矩阵用于实现待测芯片不同管脚之间的短接，其特征在于所述键盘矩阵由复数个模拟开关模块组成。

2.如权利要求1所述的芯片测试电路系统，其特征在于所述控制单元提供控制信号给所述键盘矩阵，以实现待测芯片不同管脚之间的短接。

3.如权利要求2所述的芯片测试电路系统，其特征在于所述控制单元通过一数据采集通道采集待测芯片的一输出信号，并以此判断待测芯片是否正常工作。

4.如权利要求1～3任一权利要求所述的芯片测试电路系统，其特征在于所述控制单元为单片机。

5.如权利要求1所述的芯片测试电路系统，其特征在于所述复数个模拟开关模块为复数个多路转换器4051。

6.如权利要求5所述的芯片测试电路系统，其特征在于所述复数个多路转换器405 1的公共I/O口连接在一起，每一个多路转换器4051的芯片使能输入端和三个通道选通输入端接收所述控制单元的控制信号，多路转换器4051的独立I/O口用于连接待测芯片的管脚。

7.如权利要求1所述的芯片测试电路系统，其特征在于所述芯片测试电路系统还包括为所述控制单元和复数个模拟开关模块供电的电源模块。