[实用新型]振动法测量弱磁场梯度的探头无效

专利信息
申请号: 200720043288.6 申请日: 2007-08-20
公开(公告)号: CN201063056Y 公开(公告)日: 2008-05-21
发明(设计)人: 蹇兴亮 申请(专利权)人: 南京农业大学
主分类号: G01R33/022 分类号: G01R33/022
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 210095*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种振动法测量弱磁场梯度的探头装置,所述的探头包括外壳、振动部件和磁传感器,其中振动部件为悬臂梁结构的压电双晶片,磁传感器安装在压电双晶片的自由端;传感器用于测量磁场强度,可以是线圈、集成线性霍尔元件、磁阻或者为巨磁阻传感器。压电双晶片加恒定频率的交变电压后带动传感器振动,完成振动法测量磁场梯度的功能。本实用新型探头具有结构简单、体积小、测量灵敏度高、成本低等优点;可用于测量弱磁场梯度的任何场所。
搜索关键词: 振动 测量 磁场 梯度 探头
【主权项】:
1.一种振动法测量弱磁场梯度的探头,在非铁磁性材料外壳内包含有振动部件和磁传感器,其特征是:振动部件为压电双晶片,压电双晶片为悬臂梁结构,在其自由端安装有磁传感器。
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