[实用新型]Al膜电极缺陷检测装置无效

专利信息
申请号: 200720036018.2 申请日: 2007-04-26
公开(公告)号: CN201060837Y 公开(公告)日: 2008-05-14
发明(设计)人: 李青;张雄;朱立锋;王保平;林青园 申请(专利权)人: 南京华显高科有限公司
主分类号: H01J9/42 分类号: H01J9/42
代理公司: 南京天华专利代理有限责任公司 代理人: 夏平;瞿网兰
地址: 210061江苏省南*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种Al膜电极缺陷检测装置,属于平板电视技术领域,其特征是它由安装玻璃基板(2)的检测台(10)、支架(7)、控制系统(8)、检测头(6)及背光光源(18)组成,背光光源安装在检测台(10)的下部、玻璃基板(2)的下部,支架(7)位于检测台(10)的上方,检测头(6)活动安装在滑杆(19)上并能沿滑杆(19)作X方向的左右移动,它通过连接线与控制系统(8)相连,滑杆(19)活动支承在支架(7)上并能沿支架(7)作Y方向的前后移动。本实用新型具有结构简单,制造方便,简单实用,耗时短,检测结果准确的优点。
搜索关键词: al 电极 缺陷 检测 装置
【主权项】:
1.一种Al膜电极缺陷检测装置,其特征是它由安装玻璃基板(2)的检测台(10)、支架(7)、控制系统(8)、检测头(6)及背光光源(18)组成,背光光源安装在检测台(10)的下部、玻璃基板(2)的下部,支架(7)位于检测台(10)的上方,检测头(6)活动安装在滑杆(19)上并能沿滑杆(19)作X方向的左右移动,它通过连接线与控制系统(8)相连,滑杆(19)活动支承在支架(7)上并能沿支架(7)作Y方向的前后移动。
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