[发明专利]影像杂质分析系统及方法

摘要

本发明提供一种影像杂质分析系统，包括：界面管理单元用于管理闭合区域选取工具，用户利用该工具可从零件影像中选取一指定区域；影像处理单元对该指定区域进行预处理；计算单元计算指定区域的最佳阀值；影像处理单元根据该最佳阀值对上述指定区域内的影像进行二值化、边缘化处理；寻点单元设置搜索的开始点及搜索方向，并按该搜索方向以开始点为起点进行边界点搜索；计算单元对边界点组成的闭合区域进行种子填充并计算其面积；结果显示单元将该面积与杂质规格进行比较并显示比较结果；及存储单元存储该比较结果。另外，本发明还提供一种影像杂质分析方法。利用本发明可分析影像指定区域内的杂质面积及根据该杂质面积判定零件是否合格。

主权项

【权利要求1】一种影像杂质分析方法，利用一个运行于计算机中的闭合区域分析程序对影像量测机台所获取的影像进行杂质分析，其特征在于，该方法包括如下步骤：从零件影像中选取一个指定区域；对所述指定区域内的影像进行预处理，该预处理包括均值过滤、中值过滤、边缘保持过滤和高斯过滤；计算预处理后的影像的最佳阀值；根据所计算出的最佳阀值对上述指定区域内的影像进行二值化、边缘化处理，并删除该指定区域的周边点；设置搜索边界点的开始点及搜索方向；以所设置的开始点为起点按照上述搜索方向搜索该指定区域内的闭合区域的边界点；若在该开始点所在行内未搜索到边界点，则另起一行继续搜索；以搜索到的边界点为基点，以搜索到该边界点的前一点为起点，按照所设置的搜索方向搜索下一个边界点；根据边界点的位置判断最后搜索到的边界点与所搜索到的第一个边界点是否重合；若所搜索到的边界点与第一个边界点重合，则所搜索到的所有边界点组成一个闭合区域，对该闭合区域进行种子填充，该闭合区域即为杂质；计算该闭合区域的面积，其计算公式为：S＝S0*N，其中，S为该闭合区域的面积，S0为每个像素点的面积，N为该闭合区域内的像素个数；将该闭合区域的面积与预定义的杂质规格进行比较，以确定该闭合区域的面积是否符合规格；及保存该零件上的闭合区域数量、各该闭合区域的面积及所述比较结果。