[发明专利]影像杂质分析系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种影像杂质分析系统及方法。

背景技术

量测是生产过程中的重要环节，其与产品的质量息息相关。对于球栅数组封装(BallGrid Array，BGA)，三维曲面(3D)及透明件的量测，传统的做法是采用电荷耦合工件(Charge Coupled Device，CCD)和接触式量测方式。采用带有CCD的影像量测机台亦可以对所述BGA、3D及零件进行扫描，并将CCD拍摄的影像转化成数字文件以利储存于电脑中。用户通过查看数字文件中影像的杂质情况，可以判定所述零件是否满足质量要求。

然而，用户在利用影像量测机台测量零件的杂质面积时，由于杂质的形状不规则，使用传统的寻点、寻线或寻圆的方法很难计算出该杂质的面积。尤其是杂质比较多时，测量杂质的面积更是无法完成。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种影像杂质分析系统，可以在影像选定的区域中搜索到所有闭合区域，计算各闭合区域的面积及根据闭合区域的面积判定零件是否合格。

鉴于以上内容，有必要提供一种影像杂质分析方法，可以在影像选定的区域中搜索到所有闭合区域，计算各闭合区域的面积及根据闭合区域的面积判定零件是否合格。

一种影像杂质分析系统，该系统包括一台计算机及与该计算机相连的影像量测机台，该影像量测机台包括一个电荷耦合感应器，用于获取零件的影像。所述计算机包括：界面管理单元，用于存储管理闭合区域分析的工具，所述工具包括闭合区域选取工具，用户通过该闭合区域选取工具从所量测到的零件的影像中选择一个指定区域；影像处理单元，用于对所述指定区域进行预处理，该预处理包括均值过滤、中值过滤、边缘保持过滤和高斯过滤；计算单元，用于计算预处理后的指定区域的最佳阀值；所述影像处理单元，还用于根据所计算出的最佳阀值对上述指定区域内的影像进行二值化、边缘化处理，并删除该指定区域外框上的与该指定区域内的闭合区域的像素值相等的像素点；寻点单元，用于设置搜索边界点的开始点及搜索方向，并按照该搜索方向以所设置的开始点为起点对上述指定区域进行边界点搜索，当搜索到边界点时，以该边界点为基点，以搜索到该边界点的前一点为起点按照所述搜索方向搜索下一个边界点，若搜索到的最后一个边界点与第一个边界点重合，则所有搜索到的边界点组成一个闭合区域，该闭合区域即为杂质；所述计算单元，还用于对该闭合区域进行种子填充，并根据该闭合区域内的像素点个数及所述电荷耦合感应器的放大倍率计算该闭合区域的面积，即杂质的面积；结果显示单元，用于将所述闭合区域的面积与零件预定义的杂质规格进行比较以判定该闭合区域的面积是否符合规格，并显示比较结果；所述寻点单元，还用于当搜索完所述指定区域的最后一行后，删除本次搜索到的闭合区域，重新设置搜索边界点的开始点及搜索方向，以搜索下一个闭合区域；及存储单元，用于保存该零件上的闭合区域数量、各闭合区域的面积及所述比较结果。

一种影像杂质分析方法，包括步骤如下：从零件影像中选取一个指定区域；对所述指定区域内的影像进行预处理，该预处理包括均值过滤、中值过滤、边缘保持过滤和高斯过滤；计算预处理后的影像的最佳阀值；根据所计算出的最佳阀值对上述指定区域内的影像进行二值化、边缘化处理，并删除该指定区域外框上的与该指定区域内的闭合区域的像素值相等的像素点；设置搜索闭合区域的边界点的开始点及搜索方向；以所设置的开始点为起点按照上述搜索方向搜索该指定区域内的闭合区域的边界点；若在该开始点所在行内未搜索到边界点，则另起一行继续搜索；以搜索到的边界点为基点，以搜索到该边界点的前一点为起点，按照所设置的搜索方向搜索下一个边界点；根据边界点的位置判断最后搜索到的边界点与所搜索到的第一个边界点是否重合；若所搜索到的边界点与第一个边界点重合，则所搜索到的所有边界点组成一个闭合区域，对该闭合区域进行种子填充，该闭合区域即为杂质；计算该闭合区域的面积，其计算公式为：S＝S0*N，其中，S为该闭合区域的面积，S0为每个像素点的面积，N为该闭合区域内的像素个数；将该闭合区域的面积与预定义的杂质规格进行比较，以确定该闭合区域的面积是否符合规格；若搜索完所述指定区域的最后一行，则删除本次搜索到的闭合区域，返回设置搜索边界点的开始点及搜索方向的步骤，重新进行搜索，以搜索下一个闭合区域并判断该闭合区域的面积是否符合规格；及保存该零件上的闭合区域数量、各该闭合区域的面积及所述比较结果。

相较于现有技术，所述的影像杂质分析系统及方法，可以在影像选定的区域中搜索到所有闭合区域，自动计算各闭合区域的面积，及各个面积与整个区域的面积比，且根据闭合区域的面积可以判定零件是否合格，方法简单、易操作，节省了品质工程师的工作时间。