[发明专利]影像杂质分析系统及方法

权利要求书

1.一种影像杂质分析方法，利用一个运行于计算机中的闭合区域分析程序对影像量测机台所获取的影像进行杂质分析，其特征在于，该方法包括如下步骤：

从零件影像中选取一个指定区域；

对所述指定区域内的影像进行预处理，该预处理包括均值过滤、中值过滤、边缘保持过滤和高斯过滤；

计算预处理后的影像的最佳阀值；

根据所计算出的最佳阀值对上述指定区域内的影像进行二值化、边缘化处理，并删除该指定区域外框上的与该指定区域内的闭合区域的像素值相等的像素点；

设置搜索闭合区域的边界点的开始点及搜索方向；

以所设置的开始点为起点按照上述搜索方向搜索该指定区域内的闭合区域的边界点；

若在该开始点所在行内未搜索到边界点，则另起一行继续搜索；

以搜索到的边界点为基点，以搜索到该边界点的前一点为起点，按照所设置的搜索方向搜索下一个边界点；

根据边界点的位置判断最后搜索到的边界点与所搜索到的第一个边界点是否重合；

若所搜索到的边界点与第一个边界点重合，则所搜索到的所有边界点组成一个闭合区域，对该闭合区域进行种子填充，该闭合区域即为杂质；

计算该闭合区域的面积，其计算公式为：S＝S0*N，其中，S为该闭合区域的面积，S0为每个像素点的面积，N为该闭合区域内的像素个数；

将该闭合区域的面积与预定义的杂质规格进行比较，以确定该闭合区域的面积是否符合规格；

若搜索完所述指定区域的最后一行，则删除本次搜索到的闭合区域，返回设置搜索边界点的开始点及搜索方向的步骤，重新进行搜索，以搜索下一个闭合区域并判断该闭合区域的面积是否符合规格；及

保存该零件上的闭合区域数量、各该闭合区域的面积及所述比较结果。

2.如权利要求1所述的影像杂质分析方法，其特征在于，在步骤保存该零件上的闭合区域数量、各该闭合区域的面积及所述比较结果之前，包括如下步骤：

显示该闭合区域的面积及所述零件预定义的杂质规格。

3.如权利要求1述的影像杂质分析方法，其特征在于，所述步骤以搜索到的边界点为基点，以搜索到该边界点的前一点为起点，按照所设置的搜索方向搜索下一个边界点，包括如下步骤：

以搜索到的边界点为基点，以搜索到该边界点的前一点为起点，按照顺时针方向搜索下一个边界点；或

以搜索到的边界点为基点，以搜索到该边界点的前一点为起点，按照逆时针方向搜索下一个边界点。

4.一种影像杂质分析系统，该系统包括一台计算机及与该计算机相连的影像量测机台，该影像量测机台包括一个电荷耦合感应器，用于获取零件的影像，其特征在于，所述计算机包括：

界面管理单元，用于存储管理闭合区域分析的工具，所述工具包括闭合区域选取工具，用户通过该闭合区域选取工具从所量测到的零件的影像中选择一个指定区域；

影像处理单元，用于对所述指定区域进行预处理，该预处理包括均值过滤、中值过滤、边缘保持过滤和高斯过滤；

计算单元，用于计算预处理后的指定区域的最佳阀值；

所述影像处理单元，还用于根据所计算出的最佳阀值对上述指定区域内的影像进行二值化、边缘化处理，并删除该指定区域外框上的与该指定区域内的闭合区域的像素值相等的像素点；

寻点单元，用于设置搜索闭合区域的边界点的开始点及搜索方向，并按照该搜索方向以所设置的开始点为起点对上述指定区域进行边界点搜索，当搜索到边界点时，以该边界点为基点，以搜索到该边界点的前一点为起点按照所述搜索方向搜索下一个边界点，若搜索到的最后一个边界点与第一个边界点重合，则所有搜索到的边界点组成一个闭合区域，该闭合区域即为杂质；

所述计算单元，还用于对该闭合区域进行种子填充，并根据该闭合区域内的像素点个数及所述电荷耦合感应器的放大倍率计算该闭合区域的面积，即杂质的面积；

结果显示单元，用于将所述闭合区域的面积与零件预定义的杂质规格进行比较以判定该闭合区域的面积是否符合规格，并显示比较结果；

所述寻点单元，还用于当搜索完所述指定区域的最后一行后，删除本次搜索到的闭合区域，重新设置搜索边界点的开始点及搜索方向，以搜索下一个闭合区域；及

存储单元，用于保存该零件上的闭合区域数量、各闭合区域的面积及所述比较结果。

5.如权利要求4所述的影像杂质分析系统，其特征在于，所述搜索方向包括开始搜索边界点的方向及搜索到边界点后的方向，该开始搜索边界点的方向包括向右和向左，所述搜索到边界点后的方向包括顺时针方向和逆时针方向。

6.如权利要求4所述的影像杂质分析系统，其特征在于，所述计算单元还用于计算所述指定区域的面积、闭合区域的面积与该指定区域面积的比值，及各闭合区域的周长。

7.如权利要求4所述的影像杂质分析系统，其特征在于，所述结果显示单元还用于显示所述闭合区域的面积，及所述零件的杂质规格，该规格包括：零件的杂质数量、杂质距离及杂质的最大面积。