[发明专利]电子组件测试系统无效
| 申请号： | 200710200664.2 | 申请日： | 2007-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN101311740A | 公开（公告）日： | 2008-11-26 |
| 发明（设计）人： | 陈及人;陈建荣;曾富岩 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种电子组件测试系统，用于分别测试多个电子组件的性能。所述电子组件测试系统包括多个分别与每个电子组件的控制信号引脚电气相连接的选择开关，一个分别与该多个选择开关相连的数据转换模组以及一个与该数据转换模组电气相连的测试机。所述数据转换模组具有一个与电子组件的输入输出引脚组相对应设置的引线组。上述电子组件测试系统利用电子组件本身的控制信号引脚，配合选择开关的高电平端和低电平端的导通与截止，使得通过基板相连的电子组件中的任一电子组件都可以单独开启或关闭，从而可以检测每个电子组件的功能是否合格，且不用将该基板拆解成单个电子组件再来测试，有利于提高后续制程中电子组件的良率。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 组件 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种电子组件测试系统，用于分别测试多个电子组件的性能，每个电子组件具有多个输入输出引脚组，该输入输出引脚组包括一个控制信号引脚，其特征在于：所述电子组件测试系统包括多个分别与每个电子组件的控制信号引脚电气相连接的选择开关，一个分别与该多个选择开关相连的数据转换模组以及一个与该数据转换模组电气相连的测试机，所述数据转换模组具有与电子组件的输入输出引脚组相对应设置的引线组，所述引线组包括一个用于提供高电平电信号的第一引线和一个用于提供低电平电信号的第二引线，所述选择开关用以从第一引线或第二引线中选择一电信号供给电子组件的控制信号引脚以导通或截止该电子组件，所述测试机用以处理从数据转换模组输出的数据以及通过数据转换模组为电子组件输入电信号。
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