[发明专利]电子组件测试系统

权利要求书

1.一种电子组件测试系统，用于分别测试多个电子组件的性能，每个电子组件具有多个输入输出引脚组，该输入输出引脚组包括一个控制信号引脚，其特征在于：所述电子组件测试系统包括多个分别与每个电子组件的控制信号引脚电气相连接的选择开关，一个分别与该多个选择开关相连的数据转换模组以及一个与该数据转换模组电气相连的测试机，所述数据转换模组具有与电子组件的输入输出引脚组相对应设置的引线组，所述引线组包括一个用于提供高电平电信号的第一引线和一个用于提供低电平电信号的第二引线，所述选择开关用以从第一引线或第二引线中选择一电信号供给电子组件的控制信号引脚以导通或截止该电子组件，所述测试机用以处理从数据转换模组输出的数据以及通过数据转换模组为电子组件输入电信号。

2.如权利要求1所述的电子组件测试系统，其特征在于：所述多个电子组件都为影像感测器。

3.如权利要求2所述的电子组件测试系统，其特征在于：所述多个影像感测器分别包括一个基板以及一个贴附于该基板的影像感测晶片，且该多个影像感测器通过相应的所述基板相连在一起。

4.如权利要求3所述的电子组件测试系统，其特征在于：所述通过基板相连的多个影像感测器中一个开启时，其所接收的输入电平为低电平，而其余处于关闭状态的电子组件所接收的输入电平为高电平。

5.如权利要求1所述的电子组件测试系统，其特征在于：所述多个电子组件中的一个电子组件开启时，其余的电子组件处于关闭状态。

6.如权利要求1所述的电子组件测试系统，其特征在于：所述电子组件的控制信号引脚为一种功耗模式引脚，用来控制使该电子组件进入睡眠状态或者工作状态。

7.如权利要求1所述的电子组件测试系统，其特征在于：所述选择开关为一多路选择开关。

8.如权利要求7所述的电子组件测试系统，其特征在于：所述选择开关包括一个高电平输入端、一个低电平输入端以及一个输出端。

9.如权利要求8所述的电子组件测试系统，其特征在于：所述选择开关的高电平输入端、低电平输入端分别与数据转换模组电气相连，且其输出端与相应的电子组件的控制信号引脚电气相连。

10.如权利要求1所述的电子组件测试系统，其特征在于：所述多个电子组件与数据转换模组以并联方式电气相连。