[发明专利]电子组件测试系统无效
申请号: | 200710200664.2 | 申请日: | 2007-05-22 |
公开(公告)号: | CN101311740A | 公开(公告)日: | 2008-11-26 |
发明(设计)人: | 陈及人;陈建荣;曾富岩 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子 组件 测试 系统 | ||
技术领域
本发明关于一种测试系统,尤其是关于一种用于测试电子组件性能的电子组件测试系统。
背景技术
众所周知,一般印刷电路板在完成线路排布或将电子零组件组装后,为确定每条线路皆可正常导通,或所组装的电子零组件功能是否正常,通常必须予以测试,将电子线路完好的印刷电路挑出,或将各电子元件固定于印刷电路板后,亦需经过电讯测试,以测试各电子元件的性能是否符合要求。
如图1所示,为一种现有的影像感测模组测试系统的测试电路图,用于测试具有一个输入输出引脚组11的待测影像感测模组10,其包括多根与待测影像感测模组10的一个输入输出引脚组11电气连接的导线20、一个与该多根导线20电气连接的数据转换模组21、一个数据线23以及一个与该数据转换模组21通过数据线23电气相连的测试机22。
所述影像感测模组10的输入输出引脚组11,用于输入输出各种类型的数据以实现不同的控制功能,其包括两个用于提供电压的电源控制引脚119、120、一个控制信号引脚121、二个用于时钟控制的时钟控制引脚122、123、二个用于输出数据的同步输出引脚124、125、接地引脚126、重置引脚127、接地端128、串行总线时钟控制引脚129、130以及多个用于输出图像信号的图像输出引脚111、112、113、114、115、116、117以及118。
所述控制信号引脚121为一种功耗模式引脚(Power Down,简称PWDN),用来控制使影像感测器进入睡眠状态或者工作状态。当控制信号引脚121输入电平为低电平时,该影像感测模组10处于正常模式,即导通状态,而当控制信号引脚121输入电平为高电平时,该影像感测模组10处于睡眠模式,即截止状态。
所述数据转换模组21具有与影像感测模组10的输入输出引脚组11相对应的引线组211,所述引线组211中的各引线所输入输出的数据类型与影像感测模组10的相对应的输入输出引脚组11中的各引脚所输入输出的数据类型相同。该数据转换模组21可以将由影像感测模组10所输出的电信号转换为适合下述测试机22处理的数字信号,同时也可以将测试机22输出的数字信号转换为适合影像感测模组10处理的电信号。
所述测试机22包括一中央处理器(图未示),其通过数据线23连接于数据转换模组21的输出端,用于处理影像感测模组10输出的数据,并通过对影像感测模组10输出的数据的处理,可判断影像感测模组10的性能是否合格。同时,该测试机22还可通过给影像感测模组10输入控制信号以控制影像感测模组10的工作状态。
所述多根导线20的一端分别与影像感测模组10的各个引脚电气相连,且其另一端电气连接于数据转换模组21的与影像感测模组10的输入输出的数据类型相对应的各个引线上,用于将影像感测模组10所产生的信号传输到数据转换模组21中。
上述影像感测模组测试系统通过测试机22控制影像感测模组10的电源引脚119、120的通断来控制影像感测模组10的启闭,因此只能测试拆解为单个的影像感测模组,因为在测试通过基板相连的多个影像感测模组时,如果仅通过通断每个影像感测模组的电源引脚来控制各个影像感测模组的启闭以测试各个影像感测模组,此时,各个非测试的影像感测模组的控制信号引脚输入电平为低电平,其所对应的影像感测模组处于导通状态。因此非测试的影像感测模组不能完全关闭会对所测试的影像感测模组造成信号干扰。但在影像感测模组的组装过程中,在拆解成单个影像感测模组后仍有许多后续加工制程,如果为了测试影像感测模组的性能,将通过基板相连的影像感测模组拆解成单个的影像感测模组,会给后续的加工制程增加成本,而如果在完成所有的加工制程再进行测试,将会使组装后的影像感测模组的不良率上升。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种能够测试组装中的通过基板相连的多个电子组件性能的电子组件测试系统。
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