[发明专利]像素结构及其制造方法有效
申请号: | 200710185012.6 | 申请日: | 2007-10-30 |
公开(公告)号: | CN101425481A | 公开(公告)日: | 2009-05-06 |
发明(设计)人: | 林宜平;邱羡坤;赖钦诠;邱绍裕;杨淑贞 | 申请(专利权)人: | 中华映管股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L21/768;H01L27/12;H01L23/522;G02F1/1362 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 左一平 |
地址: | 台湾省台北*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明涉及一种可降低漏电流的像素结构及其制造方法,像素结构包括栅极、栅绝缘层、半导体层、欧姆接触层、源极、漏极、第一图案化介电层、第二图案化介电层及像素电极依序配置于基板上。栅绝缘层覆盖栅极,而半导体层位于栅极上方。欧姆接触层配置于半导体层上,且源/漏极露出欧姆接触层露出的部分半导体层。第一图案化介电层覆盖栅极上方的源/漏极并露出部分半导体层。第一图案化介电层与第二图案化介电层分别具有第一开口与第二开口以露出部分漏极。像素电极借第一及第二开口电性连接漏极。 | ||
搜索关键词: | 像素 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1. 一种像素结构的制造方法,其特征在于包括:形成一栅极于一基板上;形成一栅绝缘层于该基板上,且该栅绝缘层覆盖该栅极;形成一半导体层于该栅绝缘层上,且该半导体层位于该栅极上方;形成一欧姆接触层于该半导体层上;形成一导体层于该欧姆接触层上;形成一第一图案化光刻胶层于该导体层上;以该第一图案化光刻胶层为掩模,移除部分该导体层,以形成一源极与一漏极,并暴露出该栅极上方的部分该欧姆接触层;移除该第一图案化光刻胶层;形成一第一介电材料层于该源极与该漏极以及该源极与该漏极所暴露的该欧姆接触层上;形成一第二图案化光刻胶层于该第一介电材料层上,其中形成该第二图案化光刻胶层时所使用的光掩模与形成该第一图案化光刻胶层时所使用的光掩模相同,并且借由调整一制程条件,使该第二图案化光刻胶层的图案尺寸大于该第一图案化光刻胶层的图案尺寸;以该第二图案化光刻胶层为掩模,移除部分该第一介电材料层以及部分该欧姆接触层,以形成一第一图案化介电层,其中该第一图案化介电层完整地覆盖该源极与该漏极,并暴露出该源极与该漏极之间的该半导体层;移除该第二图案化光刻胶层;形成一第二介电材料层于该第一图案化介电层、该半导体层以及该栅绝缘层上;移除部分该第一图案化介电层与部分该第二介电材料层,以形成一第二图案化介电层,其中该第一图案化介电层具有一第一开口,而第二图案化介电层具有一第二开口,且该第二开口暴露出该第一开口所暴露出的该漏极;以及形成一像素电极于该第二图案化介电层上,且该像素电极电性连接该第一开口以及该第二开口所暴露出的该漏极。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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