[发明专利]微控制器芯片及其调试方法有效
| 申请号： | 200710172339.X | 申请日： | 2007-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN101458725A | 公开（公告）日： | 2009-06-17 |
| 发明（设计）人： | 谷志坤;赵启山;史卫东 | 申请（专利权）人： | 上海海尔集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘 芳 |
| 地址： | 200030上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种微控制器芯片及其调试方法，该芯片包括彼此相连的中央处理器、调试模块和调试接口，该调试模块包括调试处理单元，分别与中央处理器和调试接口相连，还包括跟踪单元，与中央处理器和调试处理单元分别相连，用于在调试过程中监测到产生跟踪触发条件时对应记录地址信息。该调试方法包括：在调试过程中，记录与所述跟踪触发条件对应的地址信息。本发明采用在微控制器芯片的调试模块内部增加跟踪单元的技术手段，克服现有调试过程中不支持实时跟踪微控制器内部代码流的技术问题，本发明支持微控制器内部代码流的实时跟踪和处理功能，可在微控制器不停止工作的情况下对调试过程的历史数据进行查询，使调试功能的实现更加灵活。 | ||
| 搜索关键词： | 控制器 芯片 及其 调试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种微控制器芯片，包括彼此相连的中央处理器、调试模块和调试接口，所述调试模块包括用于执行调试操作的调试处理单元，所述调试处理单元分别与所述中央处理器和调试接口相连，其特征在于所述调试模块中还包括：跟踪单元，与所述中央处理器和调试处理单元分别相连，用于在调试过程中监测到产生跟踪触发条件时，记录与所述跟踪触发条件对应的地址信息。
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