[发明专利]用于缺陷检测的方法和系统无效

专利信息
申请号: 200710142879.3 申请日: 2007-08-01
公开(公告)号: CN101451963A 公开(公告)日: 2009-06-10
发明(设计)人: 史密尔·曼根;鲍里斯·戈德堡;伊谢·施瓦茨班德;翁·哈伦;迈克尔·本-伊谢;阿米尔·萨吉弗 申请(专利权)人: 以色列商·应用材料以色列公司
主分类号: G01N21/956 分类号: G01N21/956
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人: 徐金国;梁 挥
地址: 以色列*** 国省代码: 以色列;IL
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摘要: 一种用于掩模版评估的系统、方法和计算机可读媒质,该方法包括:(i)在成像工艺期间,在不同的偏振和可选的干涉测量条件下,得到掩模版的多重图像;以及(ii)响应(i)多重图像和(ii)成像工艺和曝光工艺之间的差别以产生输出航空图像;其中在曝光工艺期间掩模版的图像投射到晶圆上。
搜索关键词: 用于 缺陷 检测 方法 系统
【主权项】:
1、一种用于掩模版评估的方法,该方法包含在成像工艺期间,在不同的偏振条件下得到所述掩模版的多重图像;以及响应(i)所述多重图像和(ii)在所述成像工艺和曝光工艺之间的差别产生输出航空图像;其中在所述曝光工艺期间所述掩模版的图像投射到晶圆上。
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