[发明专利]一种氮硅共熔合金及其制造方法和用途有效

专利信息
申请号: 200710118516.6 申请日: 2007-07-06
公开(公告)号: CN101338449A 公开(公告)日: 2009-01-07
发明(设计)人: 戴小林;韩海健;吴志强;崔彬 申请(专利权)人: 北京有色金属研究总院;有研半导体材料股份有限公司
主分类号: C30B15/04 分类号: C30B15/04
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 代理人: 郭佩兰
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种氮硅共熔合金及其制造方法和用途。氮硅共熔合金中总氮浓度为1E16-7E18原子/立方厘米。该氮硅共熔合金用于直拉单晶制备工艺中的氮的掺杂,在直拉(切克劳斯基法)制造的硅单晶生长方法中,适量氮的加入既不影响长成单晶体,也可以控制晶体中一种称为“COP”或“voids”缺陷的浓度和大小,这种缺陷是影响集成电路功能的一种主要原因,采用氮硅共熔合金掺杂可使掺杂稳定,缩短熔化时间。
搜索关键词: 一种 氮硅共 熔合 及其 制造 方法 用途
【主权项】:
1、一种氮硅共熔合金,其特征在于:所述的氮硅共熔合金中总氮浓度为1E16-7E18原子/立方厘米。
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