[发明专利]一种氮硅共熔合金及其制造方法和用途有效
申请号: | 200710118516.6 | 申请日: | 2007-07-06 |
公开(公告)号: | CN101338449A | 公开(公告)日: | 2009-01-07 |
发明(设计)人: | 戴小林;韩海健;吴志强;崔彬 | 申请(专利权)人: | 北京有色金属研究总院;有研半导体材料股份有限公司 |
主分类号: | C30B15/04 | 分类号: | C30B15/04 |
代理公司: | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 | 代理人: | 郭佩兰 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种氮硅共熔合金及其制造方法和用途。氮硅共熔合金中总氮浓度为1E16-7E18原子/立方厘米。该氮硅共熔合金用于直拉单晶制备工艺中的氮的掺杂,在直拉(切克劳斯基法)制造的硅单晶生长方法中,适量氮的加入既不影响长成单晶体,也可以控制晶体中一种称为“COP”或“voids”缺陷的浓度和大小,这种缺陷是影响集成电路功能的一种主要原因,采用氮硅共熔合金掺杂可使掺杂稳定,缩短熔化时间。 | ||
搜索关键词: | 一种 氮硅共 熔合 及其 制造 方法 用途 | ||
【主权项】:
1、一种氮硅共熔合金,其特征在于:所述的氮硅共熔合金中总氮浓度为1E16-7E18原子/立方厘米。
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