[发明专利]一种探测闪存物理参数的方法及装置无效
| 申请号： | 200710099016.2 | 申请日： | 2007-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN101060014A | 公开（公告）日： | 2007-10-24 |
| 发明（设计）人： | 黄磊 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/20 | 分类号： | G11C16/20;G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 | 代理人： | 黄志华 |
| 地址： | 100083北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种探测闪存物理参数的方法及装置，用以解决现有技术获得闪存物理参数的方法局限性大的问题。本发明方法包括步骤：将一定字节数据写入闪存的页，并读取该页的所述一定字节数据，根据所述读取的数据与所述写入的数据的相同数据的字节数，确定所述闪存的每页最多可以存储的数据的字节数。本发明还公开了一种探测闪存物理参数的装置。本发明用于探测各种闪存的物理参数，可以探测出各种闪存的物理参数，避免了现有技术获得闪存物理参数的方法局限性大的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 探测 闪存 物理 参数 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种探测闪存物理参数的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：将一定字节数据写入闪存的页，并读取该页的所述一定字节数据，根据所述读取的数据与所述写入的数据的相同数据的字节数，确定所述闪存的每页最多可以存储的数据的字节数。
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